當前位置：上海德竹芯源科技有限公司>>半導體檢測設(shè)備>>SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號SE 400adv

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2024-02-14 14:59:06瀏覽次數(shù)：265次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  半導體檢測設(shè)備

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

上海德竹芯源科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：9條

所在地區(qū)：

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400adv 表征吸收膜特征。

詳細介紹

亞埃精度

● 穩(wěn)定的氦氖激光器保證了 0.1 埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。

擴展激光橢偏儀的極限

● 性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。

高速測量

● 激光橢偏儀 SE 400adv 的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢測，或做樣品均勻性的自動掃描。

● 激光橢偏儀 SE 400adv 可用于從可選擇的、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動準直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進行準確測量。多角度測量的集成支持(40°—90°，5° 步進)，可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù)。為了補償激光橢偏測量中厚度測量的模糊性，厚度測量中也采用了多角度測量。

● 激光橢偏儀 SE 400adv，用于超薄單層薄膜的厚度測量。小型臺式儀器由橢偏儀光學部件、角度計、樣品臺、自動準直透鏡、氦氖激光光源和檢測單元組成。激光橢偏儀 SE 400adv 的選項支持在微電子、光伏、數(shù)據(jù)存儲、顯示技術(shù)、生命科學、金屬加工等領(lǐng)域的應(yīng)用。