污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
上海德竹芯源科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)XPert3 MRD
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時(shí)間：2023-10-03 10:53:05瀏覽次數(shù)：272次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線高分辨率X射線衍射儀，主要用途為測(cè)量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導(dǎo)體材料的單晶和外延層材料的結(jié)晶完整性，外延層及相應(yīng)半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)的組分、厚度、弛豫度等參數(shù)的測(cè)定，外延結(jié)構(gòu)的晶格失配及應(yīng)變狀態(tài)分析，X-Y map均勻性分析，雙軸晶和三軸晶X射線衍射，對(duì)稱和非對(duì)稱掃描，Out-of-plane 和 In-plan......
設(shè)備功能
● 倒易空間掃描(RSM) – 一分鐘完成自動(dòng)掃描及自動(dòng)分析
● 高分辨衍射(HRXRD) – W/2T，2T/W，2T……掃描
● 搖擺曲線(Rocking Curve) – W 掃描
● 反射率(XRR) – 材料密度，厚度，粗糙度(Option)
● 晶格參數(shù)(Lattice parameter)，晶向(Orientation)及晶面鑒定(Reflection plane)
● 切角(Off-Cut)及平辺方向(Flat)鑒定
● 晶體缺陷鑒定(Defect)
● 曲率半徑鑒定(Curvature)
● 應(yīng)力(Strain)及弛裕度(relaxation)鑒定
● 晶格失配率鑒定(Mismatch)
● 成份分析，厚度分析
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