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產(chǎn)品型號P-7
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時間:2022-12-22 14:05:39瀏覽次數(shù):339次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。 P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測量性能,并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。 臺階高度:幾納米至1000μm 微力恒力控制:0.03至50mg 樣品全直徑掃描,無需圖像拼接 視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像機 圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差 軟件:簡單易用的軟件界面 生產(chǎn)能力:通過測序,模式識別和SECS / GEM實現(xiàn)全自動化 臺階高度:2D和3D臺階高度 紋理:2D和3D粗糙度和波紋度 形狀:2D和3D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D和3D薄膜應(yīng)力 缺陷復(fù)檢:2D和3D缺陷表面形貌 大學(xué)、研究實驗室和研究所 半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體 LED:發(fā)光二極管 太陽能 MEMS:微機電系統(tǒng) 數(shù)據(jù)存儲 汽車 醫(yī)療設(shè)備 重復(fù)性:≤4A (0.10%) 垂直分辨率: 0.01A 水平分辨率(X): 0.025 um 水平分辨率(Y): 0.5 um 采樣率: 5~2000 Hz 垂直線性度: 士0.5%>2000A. 10As 2000 A 針壓范圍: 0. 03~50 mg 測量長度: 150 mm (無需拼接) 掃描速度:2 um/s - 25 mm/sP-7 Stylus Profiler
產(chǎn)品描述
主要功能
主要應(yīng)用
工業(yè)應(yīng)用
主要技術(shù)參數(shù)
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