深圳市科時達(dá)電子科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 如果您應(yīng)用NIR光譜在研究，診斷或過程控制中的話，海洋光學(xué)NIRQuest近紅外光纖光譜儀將是一個低成本，方便的選擇，可取代FT-IR或同類技術(shù)的系統(tǒng)。 NIR...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-27 在線留言
詳細(xì)摘要： R&D100金獎產(chǎn)品，在儀器設(shè)計和性能各個方面都有非常出色的表現(xiàn)。做為新一代工業(yè)在線級傅立葉變換近紅外光譜分析儀，該儀器采用了多項*技術(shù)，滿足各種工業(yè)現(xiàn)場要求：...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 瑞士Buchi公司的近紅外技術(shù)給您的整個生產(chǎn)鏈提供了完整的分析測試方案，從進(jìn)廠原料的檢測到生產(chǎn)過程到最終產(chǎn)品的分析測試。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2023-06-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 高分辨率光纖光譜儀HR4ProHR光纖光譜儀是一種占地小，高分辨率的光譜儀，用于激光和led的波長表征，氣體和單色光源的監(jiān)測，以及元素原子發(fā)射線的測定
產(chǎn)品型號：HR4Pro所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Sentech集成等離子刻蝕和沉積的多腔系統(tǒng)研發(fā)三到六個端口傳送腔室可用于集成ICP等離子刻蝕機、RIE刻蝕機、原子層沉積系統(tǒng)、PECVD和ICPECVD沉...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國DienerPECVD等離子體化學(xué)氣相沉積設(shè)備該PECVD系統(tǒng)可以沉積高質(zhì)量SiO2薄膜、Si3N4薄膜、類金剛石薄膜、硬質(zhì)薄膜、光學(xué)薄膜等
產(chǎn)品型號：TETRA240所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 超低溫磁場探針臺半自動真空低溫探針臺使晶圓和器件在低溫下9k(singleCCR系統(tǒng))、4.5K(dualCCR系統(tǒng))甚至低于4K(tripleCCR系統(tǒng))的情...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 適用于多種晶圓量測應(yīng)用?模塊量測-DC-IV
產(chǎn)品型號：TS3500 Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： TS3000ProbeSystem半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)?模塊量測-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV?高溫度范圍-60°C至300°C?大的靈...
產(chǎn)品型號：TS3000 Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)HEMS測量包括：?遷移率測試?DCHEMS:10^6cm2/Vsto10cm2/Vs?ACHEMS:10cm2/Vsto0
產(chǎn)品型號：HEMS所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 振動樣品磁強計VSM振動樣品磁強計VSM?振動頭振動頻率(校準(zhǔn)):1-100Hz?VSM振蕩幅度范圍：0.1mm-5mm?大樣品直徑：6mm?適用于液體、粉末、...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： MultiskanSkyhigh全波長讀數(shù)儀全波長讀數(shù)儀MultiskanSkyhigh具備微孔板和比色杯測量的雙重功能，既可作為全波長酶標(biāo)儀，也可作為全波長分...
產(chǎn)品型號：Multiskan Skyhigh所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 安捷倫真空（原瓦里安）提供全套VacIon離子泵產(chǎn)品系列，具有多種抽速供選擇(0.4–1000L/s)
產(chǎn)品型號：VacIon所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)EzHEMS?電阻率測量范圍:10-4-109?·cm(取決于樣本)?遷移率:1-107cm2/V·S(取決于樣本)?載流子濃度:107-102...
產(chǎn)品型號：EzHEMS所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： TS2000-HPProbeSystem半自動化探針臺測試系統(tǒng)MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統(tǒng)可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的Shi...
產(chǎn)品型號：TS2000-HP Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 適用于多種晶圓量測應(yīng)用，?如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽環(huán)...
產(chǎn)品型號：TS200-SE Probe System所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 主要特點：*16個超寬溫度范圍（-50-200℃）的長壽命Peltier模塊
產(chǎn)品型號：UNO96G所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學(xué)輪廓儀是功能面的自動化臺式系統(tǒng)，可快速完成非接觸式三維表面計量
產(chǎn)品型號：ContourX-500所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： ThermoScientificIntegrion高壓離子色譜耐壓zui高的離子色譜泵
產(chǎn)品型號：Integrion所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 布魯克Bruker三維光學(xué)輪廓儀ContourGT-XContourGT-X三維光學(xué)輪廓儀提供高性能非接觸表面測量，適用于實驗室研究和生產(chǎn)過程控制
產(chǎn)品型號：ContourGT-X所在地：更新時間：2023-06-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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