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TS200-SE Probe System MPI手動(dòng)晶圓探針臺(tái)系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號(hào)TS200-SE Probe System

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更新時(shí)間：2023-06-16 20:28:56瀏覽次數(shù)：251次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

適用于多種晶圓量測(cè)應(yīng)用，
? 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
? 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計(jì)的精密量測(cè)環(huán)境
? 支援飛安低漏電量量測(cè)
? 溫度量測(cè)范圍 -60 °C 至 300 °C

TS200-SE Probe System細(xì)節(jié)優(yōu)勢(shì)

MPI TS200-SE手動(dòng)探針測(cè)試系統(tǒng)具有的功能。具有高度可重復(fù)性（1µm）的壓板提升設(shè)計(jì)，具有用于安全，接觸，分離（300µm）和加載（3mm）的三個(gè)離散位置。這些功能可防止意外的探針或晶圓損壞，同時(shí)提供直觀的控制，準(zhǔn)確的觸點(diǎn)定位和安全設(shè)置。附加的Probe Hover Control™具有懸停高度（50、100或150 µm），可輕松方便地將探頭與Chuck對(duì)齊。

MPI ShielDEnvironment™是一個(gè)高性能的屏蔽系統(tǒng)，可為超低噪聲，低電容測(cè)量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測(cè)試環(huán)境。