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深圳市科時達電子科技有限公司


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TS200-SE Probe System MPI手動晶圓探針臺系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號TS200-SE Probe System

品       牌

廠商性質(zhì)其他

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聯(lián)系方式：林經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時間：2023-06-16 20:28:56瀏覽次數(shù)：275次

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經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：420條

所在地區(qū)：

聯(lián)系人：林經(jīng)理

產(chǎn)品簡介

適用于多種晶圓量測應(yīng)用，?如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性(WLR)和失效分析(FA)MPIShielDEnvironment™屏蔽環(huán)境?專為EMI/RFI/Light-Tight屏蔽所設(shè)計的精密量測環(huán)境?支援飛安低漏電量量測?溫度量測范圍-60°C至300°CTS200-SEProbeSystem細節(jié)優(yōu)勢MPITS200-SE手動探針測試系統(tǒng)具有的功能

詳細介紹


適用于多種晶圓量測應(yīng)用，
? 如組件特性描述和建模、射頻和毫米波、晶圓可靠性 (WLR) 和失效分析 (FA)
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環(huán)境
? 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設(shè)計的精密量測環(huán)境
? 支援飛安低漏電量量測
? 溫度量測范圍 -60 °C 至 300 °C

TS200-SE Probe System細節(jié)優(yōu)勢

MPI TS200-SE手動探針測試系統(tǒng)具有的功能。具有高度可重復(fù)性（1µm）的壓板提升設(shè)計，具有用于安全，接觸，分離（300µm）和加載（3mm）的三個離散位置。這些功能可防止意外的探針或晶圓損壞，同時提供直觀的控制，準確的觸點定位和安全設(shè)置。附加的Probe Hover Control™具有懸停高度（50、100或150 µm），可輕松方便地將探頭與Chuck對齊。

MPI ShielDEnvironment™是一個高性能的屏蔽系統(tǒng)，可為超低噪聲，低電容測量提供出色的EMI和不透光的屏蔽測試環(huán)境。



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