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日立膜厚儀器淄博鍍層測試儀參數(shù)

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更新時(shí)間：2022-09-26 15:33:17瀏覽次數(shù)：153次

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丞普諾儀器（蘇州）有限公司

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產(chǎn)品簡介

日立膜厚儀器產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號(hào)XTU-A類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍50mm*50mmXY軸工作臺(tái)承重5KG測量元素范圍CI（17）-U（92）不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍CI（17）-U（92）分析軟件同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準(zhǔn)直器φ0

詳細(xì)介紹

日立膜厚儀器產(chǎn)品描述

品牌	一六儀器	型號(hào)	XTU-A
類別	下照式	儀器尺寸	550mm480mm470mm
儀器重量	45KG	XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍	50mm*50mm
XY軸工作臺(tái)承重	5KG	測量元素范圍	CI（17）-U（92）
不同層相同元素檢查能力	選配	涂鍍層分析范圍	CI（17）-U（92）
分析軟件	同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素	X射線裝置	微聚焦射線管
準(zhǔn)直器	φ0.5mm、φ0.2mm兩準(zhǔn)直器任選一種	測量距離	具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離測量凹凸異行物品，變焦距離可達(dá)0-30mm
對(duì)焦方式	高敏感鏡頭，手動(dòng)對(duì)焦	樣品臺(tái)移動(dòng)	手動(dòng)無滑軌
其他附件	電腦一套，噴墨打印機(jī)，附件箱，12元素片，電鍍液測量杯（選配）標(biāo)準(zhǔn)片（選配）

　　丞普諾儀器（蘇州）有限公司主營產(chǎn)品有：視頻接觸角測定儀、張力儀、水滴角檢測儀、表、界面儀器的設(shè)計(jì)與開發(fā)、模具保護(hù)監(jiān)視器、視覺類等檢測儀器的定制與開發(fā)。

　　膜厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。

日立膜厚儀器淄博鍍層測試儀參數(shù)

　　膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇"，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：

　　1、基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　2、基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　3、基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。

　　4、邊緣效應(yīng)

　　本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

　　5、曲率

　　試件的曲率對(duì)測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　6、試件的變形

　　測量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

　　7、表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

　　8、磁場

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

　　9、附著物質(zhì)

　　本儀器對(duì)那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。

　　10、測量頭壓力

　　測量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。

　　11、測量頭的取向

　　測量頭的放置方式對(duì)測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直。

日立膜厚儀器淄博鍍層測試儀參數(shù)

　　臺(tái)式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值。

日立膜厚儀器淄博鍍層測試儀參數(shù)

　　膜厚儀磁感應(yīng)測量原理：

　　膜厚儀采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動(dòng)勢的大小，儀器將該放大后來指示覆層厚度。一些電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10。

　　丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實(shí)力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認(rèn)可，堅(jiān)持以客戶為核心，“質(zhì)量到位、服務(wù)"的經(jīng)營理念為廣大客戶提供的服務(wù)。

關(guān)鍵詞：工作臺(tái) 張力儀監(jiān)視器測厚儀

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