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更新時間:2024-02-25 12:39:54瀏覽次數(shù):274次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線德國Bruker X-射線熒光測厚儀
M1—Mistrial X-射線熒光鍍層測厚儀
Mistrial系列是一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統(tǒng),用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
Mistrial可應用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定(如珠寶鑒定)等行業(yè),完成單層或多層厚度測量。
主要特點包括:;
?成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
?可完成至多12層鍍層(另加底材)和25個元素的鍍層厚度測試,
?的多元素辨識,廣泛覆蓋元素表上從鈦(原子序數(shù)22號)到鈾(92號)各元素
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光(EDXRF)技術, Mistrial可實現(xiàn)如下測試要求:
?符合ISO3497標準測試方法:金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
?符合ASTM B568標準測試方法:X射線光譜儀測量鍍層厚度,包括金屬和部分非金屬鍍層
?至多同時分析25種元素
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