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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： Brookfield質(zhì)構(gòu)儀,HAAKE擠出機(jī),日立掃描電鏡 |
公司信息
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耐馳LFA 467 HT HyperFlash 閃射法導(dǎo)熱儀
精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測試，覆蓋 RT...1250°C 的寬廣溫度范圍
耐馳公司新款閃射法導(dǎo)熱儀 LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺構(gòu)建，可在室溫...1250°C之間進(jìn)行精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測量。儀器使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng)，擁有超長的光源壽命，在寬廣的溫度范圍內(nèi)提供了精確的導(dǎo)熱測量，基本無耗材。
ZoomOptics - 優(yōu)化檢測范圍，獲取精確的測量結(jié)果
的 ZoomOptics 系統(tǒng)（號：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）優(yōu)化了檢測器的檢測范圍，消除了樣品外緣的干擾信號，可大大提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
超高的數(shù)據(jù)采集速率（ 2MHz），極窄的光脈沖寬度（小 20μs 以下），允許測量薄的高導(dǎo)熱的材料耐馳LFA 467 HT HyperFlash 閃射法導(dǎo)熱儀
LFA 467 HyperFlash® 系列產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集速率提升到了 2 MHz。這一超高的數(shù)據(jù)采集速率同時體現(xiàn)在紅外檢測器，以及 pulse mapping 通道上。由此，可以有效地測試傳熱時間非常短的高導(dǎo)熱薄層材料，如厚度 0.3mm 左右的金屬薄片，或厚度 30μm 左右的聚合物薄膜。
pulse mapping 系統(tǒng)將有限脈沖寬度效應(yīng)、以及熱損耗納入計算（號：US7038209 B2; US20040079886; DE1024241）。
真空密閉，保證氣氛純凈，防止樣品氧化
儀器內(nèi)置全自動真空系統(tǒng)，在測量開始之前可進(jìn)行自動抽真空與氣氛置換操作，保證了氣氛的純凈性。儀器另有擴(kuò)展的真空接口，可連接到外部真空泵。鉑爐為真空密閉設(shè)計，升溫速率可達(dá) 50K/min。
通過四樣品位+四組獨立熱電偶的設(shè)計，提高測樣效率與測溫準(zhǔn)確性
儀器通過自動進(jìn)樣器（ASC），實現(xiàn)了在寬廣溫度范圍內(nèi)的高效測試。ASC 包含四個樣品位，可裝載直徑 12.7mm 的圓形樣品，或 10mm 規(guī)格的圓形或方形樣品。每個樣品位都擁有獨立的熱電偶。這一設(shè)計極大地縮小了樣品與測溫點之間的溫度偏差。
體積小巧，高度集成化
LFA 467 HT HyperFlash® 是基于氙燈光源而能達(dá)到 1250°C 高溫的 LFA 系統(tǒng)。儀器配備單一的爐體，帶內(nèi)置的自動進(jìn)樣器，在保持 LFA 467 HyperFlash® 一貫的小巧體積的同時，覆蓋了寬廣的溫度范圍。即使在較高的溫度下，有效的內(nèi)部循環(huán)水冷系統(tǒng)仍能保證周圍部件的溫度處于安全范圍之內(nèi)，由此減少了紅外檢測器的液氮消耗量。
LFA 467 HT HyperFlash® - 技術(shù)參數(shù)
• 溫度范圍：RT … 1250°C（LFA 467 HT）
• 可選擇不同紅外傳感器，以在不同溫度范圍獲得信號響應(yīng)
• ZoomOptics 功能，優(yōu)化紅外測溫信噪比
• 激光源：氙 燈，能量可調(diào)
• 導(dǎo)熱系數(shù)：0.1 … 4000W/mK
• 樣品尺寸：方形 8 x 8mm，10 x 10mm 圓形 Ø10mm，Ø12.7mm，Ø25.4mm 厚度 0.01 … 6mm
• 測試氣氛：惰性或氧化
• 樣品形態(tài)：固體、液體、粉末、薄膜
• 自動進(jìn)樣器： 4 個樣品位（LFA 467 HT）
• 冷卻設(shè)備：液氮制冷（選配）
• 全新測量系統(tǒng)，尤其適合薄膜材料
LFA 467 HT HyperFlash® - 應(yīng)用實例
鎳基合金 - 全溫度范圍內(nèi)的高精度
圖中曲線為標(biāo)樣 Inconel 600 的熱擴(kuò)散系數(shù)（紅點）、導(dǎo)熱系數(shù)（藍(lán)點）和比熱（黑點）測試結(jié)果。與理論值（實線）相比，實測數(shù)據(jù)點的偏差均小于±3%，精度水平普遍好于±3%。
銀
銀具有很高的電導(dǎo)率，有助于降低鍍線電阻，這在高頻率應(yīng)用時特別有利。
左圖對不同厚度銀片樣品進(jìn)行熱擴(kuò)散系數(shù)的對比測試。在 300K 的測試溫度下，不同厚度的樣品測試結(jié)果（從薄到厚）與文獻(xiàn)值相比，偏差均在 ±3% 以內(nèi)。
