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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： Brookfield質(zhì)構(gòu)儀,HAAKE擠出機(jī),日立掃描電鏡 |
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公司信息
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更新時(shí)間：2023-10-28 09:13:13瀏覽次數(shù)：1625
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耐馳LFA 467 HyperFlash – 閃射法導(dǎo)熱儀寬廣的溫度范圍，從 -100°C 到 500°C
無(wú)須更換檢測(cè)器或爐體， LFA467 HyperFlash在同一臺(tái)儀器上可實(shí)現(xiàn) -100°C 到 500°C 的寬廣溫度范圍。加上目前市場(chǎng)上種類可選配件，開(kāi)創(chuàng)了熱物性測(cè)量的新天地。
進(jìn)樣器附有 16 個(gè)樣品位，樣品容納量為原來(lái)的 4 倍
耐馳LFA 467 HyperFlash – 閃射法導(dǎo)熱儀 的一大優(yōu)勢(shì)是可以在整個(gè)溫度范圍內(nèi)連續(xù)測(cè)量 16 個(gè)樣品，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。液氮補(bǔ)給系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)器與爐體的自動(dòng)補(bǔ)充液氮，保證儀器全天候不間斷測(cè)量。
ZoomOptics 得到的測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確，減少測(cè)量誤差
技術(shù)的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測(cè)器的檢測(cè)范圍，從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測(cè)量結(jié)果的精度。
*的采樣頻率（2MHz），特別適合于薄膜樣品
薄膜樣品及高導(dǎo)熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率，來(lái)精確地記錄樣品上表面的升溫過(guò)程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率。
LFA 467 HyperFlash® - 技術(shù)參數(shù)
• 溫度范圍：-100°C/RT … 500°C（LFA 467）
• 可選擇不同紅外傳感器，以在不同溫度范圍獲得佳信號(hào)響應(yīng)
• ZoomOptics 功能，優(yōu)化紅外測(cè)溫信噪比
• 激光源：氙 燈，能量可調(diào)
• 導(dǎo)熱系數(shù)：0.1 … 4000W/mK
• 樣品尺寸：方形 8 x 8mm，10 x 10mm 圓形 Ø10mm，Ø12.7mm，Ø25.4mm 厚度 0.01 … 6mm
• 測(cè)試氣氛：惰性或氧化
• 樣品形態(tài)：固體、液體、粉末、薄膜
• 自動(dòng)進(jìn)樣器：多 16 個(gè)樣品位（LFA 467）
• 冷卻設(shè)備：液氮制冷（選配）
• 全新測(cè)量系統(tǒng)，尤其適合薄膜材料
LFA 467 HyperFlash® - 應(yīng)用實(shí)例
Pyroceram 標(biāo)樣測(cè)試 - 更大的裝樣數(shù)，更高的測(cè)試效率
LFA 467 HyperFlash® 的高樣品裝載量可以提高操作效率。LFA 467 HyperFlash® 多可裝載16個(gè)樣品。這在保證測(cè)試質(zhì)量的前提下顯著節(jié)省測(cè)試時(shí)間和精力。
集成的自動(dòng)進(jìn)樣器可以保證整個(gè)溫度范圍內(nèi)、每個(gè)位置上的每一個(gè)樣品都處于位置。測(cè)量時(shí)，系統(tǒng)對(duì)所有樣品同時(shí)進(jìn)行加熱或冷卻，然后逐一測(cè)量。這樣可以大大節(jié)省測(cè)試時(shí)間。
譜圖顯示了使用 LFA 467 一次裝載 16 個(gè) Pyroceram 樣品（厚度為 2.5mm，直徑為 12.7mm）進(jìn)行室溫至 500℃ 的測(cè)試。測(cè)量結(jié)果與理論值之間的偏差 < 2%。
集成自動(dòng)進(jìn)樣器可同時(shí)測(cè)試 16 個(gè)樣品，并具有*的精度和重現(xiàn)性。
鎳基合金 - 全溫度范圍內(nèi)的高精度
圖中曲線為標(biāo)樣 Inconel 600 的熱擴(kuò)散系數(shù)（紅點(diǎn)）、導(dǎo)熱系數(shù)（藍(lán)點(diǎn)）和比熱（黑點(diǎn)）測(cè)試結(jié)果。測(cè)量覆蓋 LFA 467 HyperFlash® 完整溫度范圍（-100℃ 至 500℃）。與理論值（實(shí)線）相比，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的偏差均小于±3%，精度水平普遍好于±3%。
LFA 467：在一次測(cè)量中即可完成全溫度范圍的熱擴(kuò)散系數(shù)測(cè)試。圖中樣品為 Inconel 600 標(biāo)樣，實(shí)線為文獻(xiàn)數(shù)據(jù)。
高導(dǎo)熱銅箔圖中展示了不同厚度的銅樣品的測(cè)量數(shù)據(jù)，這個(gè)實(shí)例清楚地表明，該系統(tǒng)可以成功地測(cè)試具有很高熱擴(kuò)散系數(shù)的樣品，另外，將樣品厚度從3.0mm減小到0.25mm進(jìn)行測(cè)試對(duì)比可見(jiàn)，即使樣品很薄仍可獲得很高的測(cè)試精度。
此類測(cè)試得益于 LFA 467 HyperFlash® 具有高達(dá) 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率和低至 20µs 的脈沖寬度。
當(dāng)樣品厚度降低時(shí)，其厚度不確定性對(duì)誤差的影響將增大。因此對(duì)于較薄的樣品測(cè)試，樣品的制備與厚度測(cè)量都需格外小心。
LFA 467：不論樣品的厚薄程度，測(cè)試得到的銅樣品的熱擴(kuò)散系數(shù)與理論值都十分吻合
