美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀
產(chǎn)品特色∶
1. *能提供NIST等級的標準樣品，與美國NREL共同合作。
2. 超大樣品室，H:56cmXW;54cmXD74cm
3. 可直接儲存及建立各種鍍層的Protocol參數(shù)，可設(shè)定多點分析，以確定制程品
質(zhì)。
質(zhì)。
4. 針對CIGS各種鍍層材質(zhì)的濾光片，共5種
5. X-Y-Z三軸自動定位，軸承zui長距離為8”X8”X6”，并有自動聚焦弁?/div>
6. 具有表面相對等距自動調(diào)整系統(tǒng)
7. 采用自然光，LED白光，無色差
8. 采用高科技的高靈敏度的電子式冷卻偵測器
9. 具有防撞安全裝置
10. 具有操作時輻射安全裝置
11. 可將實驗室建立的數(shù)據(jù)直接復(fù)制至線上檢測機臺上。
基本規(guī)格：
| X射線發(fā)生部 | 電壓 | zui大50kV，多段電壓切換 |
| 電流 | 4-1000μA，可做自動調(diào)整設(shè)定 | |
| 準直器 | 共五個 | |
| 偵測器 | Pin or Si | |
| 檢測器 | 冷卻方式 | 電子冷卻 |
| 五種濾波器自動切換 | | |
| 電源 | AC110~240V, 50/60 Hz | |
應(yīng)用領(lǐng)域：
| 鍍層厚度分析 |
| （1）分析CIGS各鍍層的厚度及成份同時測量。 |
其他型號：
薄膜太陽能檢測設(shè)備：
應(yīng)用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。
● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:*能提供NIST標準樣品，快速（60秒內(nèi)）非破壞檢測。
● 生產(chǎn)製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設(shè)備商turn-key使用，直接OEM與生產(chǎn)製程端整合。
● 即時監(jiān)測設(shè)備（In-Situ） SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內(nèi)檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產(chǎn)線自動檢測系統(tǒng)（In-Line） SMX-ILH:適用於各種製程產(chǎn)線上不同檢測點上，可依現(xiàn)場Layout 做不同方式進樣。
（）
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN（）
桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN（）
SMX-FPV（）
生產(chǎn)製程專用模組 SMX-FPV（）
即時監(jiān)測設(shè)備（In-Situ） SMX-ISI 、產(chǎn)線自動檢測系統(tǒng)（In-Line） SMX-ILH（）
