DiaTest-ASM全自動單顆粒強度測定儀
DiaTest ASM是一款具有集成粒度和形狀分析（圖像分析）功能的自動斷裂強度測試儀（壓縮試驗機）。
主要部件包括帶高精度稱重傳感器和砧座位移傳感器的氣壓機、帶攝像頭和照明的測量光學元件。自動系統(tǒng)一次移取一個顆粒，并將其送入自動測量程序。
DiaTest-ASM 是一臺全自動單顆粒強度測定儀。它結合了單顆粒單向斷裂試驗, 光學尺寸和形狀分析。并自動完成單顆粒的分離和處理。 該機可用于超硬磨料如金剛石，也可用于普通磨料，化合物和其他脆性顆粒的測試。
測試儀與控制計算機之間通過標準接口（USB和firewire）進行連接。
硬件：
DiaTest ASM是一種具有集成粒度和形狀分析的自動斷裂強度測試儀。主要部件包括帶高精度稱重傳感器和砧座位移傳感器的氣壓機、帶攝像頭和照明的測量光學系統(tǒng)以及附加的觀察攝像頭。自動拾取和放置系統(tǒng)處理單個粒子。測試儀和控制計算機之間的連接通過標準接口（USB和firewire）實現(xiàn)。
軟件：
系統(tǒng)操作由一個易于操作的程序界面控制，該界面在標準PC上運行
操作原理：
膠帶用作顆粒的載體。拾取和放置系統(tǒng)從容器中取出單個粒子并將其放置到膠帶上。膠帶上的顆粒被拉過機器。首先，他們通過顯微鏡，在那里計算尺寸、形狀和位置參數(shù)。然后顆粒到達氣動壓力機。這里施加一個平滑上升的力，直到粒子破裂。根據(jù)力、時間和位移數(shù)據(jù)計算壓縮斷裂力。斷裂力與光學粒子分析結果一起存儲。根據(jù)斷裂力和顆粒尺寸計算斷裂強度。
該程序創(chuàng)建EXCEL表格，其中包含所有測試粒子的數(shù)據(jù)以及帶有統(tǒng)計結果的表格和報告。
技術數(shù)據(jù)：
電源：外部開關
電源外部開關：24V DC/1.8A，
電源輸入：100-230V交流電。
施力：雙向短沖程氣缸
輸入壓力：6 bar < p < 10 bar
工作壓力：4.2 bar < p < 4.6 bar（可在設備中調節(jié)）
測量范圍
粒度：150 µm ... 2mm
力值：0…2000N通過稱重傳感器直接測力
附加力值范圍：0-200 N
過載：2300 N（230N）
分辨率：3N（0,3N）（整個裝置）
測量誤差：20 N（2N）（所有子組件）
光學分辨率：4,2µm/像素
圖像大?。?/font>1388 x 1038像素
砧座材料：PCD
輸送帶：12mm透明膠帶
PC（所需資源）：Windows 7或XP 32位
1x USB 2.0端口1x PCI
1x PCI Express
處理時間：每批約50分鐘（每批500粒）
壓縮機電源：220~230伏交流電。
每個顆粒和整個批次的計算參數(shù)：
- 壓縮斷裂力（CFF）
- 抗壓斷裂強度（CFS）
- 最小feret直徑
- 總面積
- 凸周長
- 慣性矩
- 費雷特伸長
- 密實度
- 面積當量直徑
- 高度
- 橢圓度
- 凸性
- 圓度
- 縱橫比
- 箱比
- 粗糙度
- CIELab*顏色坐標
報告生成：
所有結果均以EXCEL文件格式（XLS）保存。每個批次的一個文件包含每個測試粒子的數(shù)據(jù)。每個產(chǎn)品的一個文件包含屬于該產(chǎn)品的所有批次的測量參數(shù)的統(tǒng)計分布。打印的報告包含批次的可選數(shù)據(jù)。
特色：
控制程序允許隨時中斷測量過程。采集的數(shù)據(jù)存儲在硬盤上，可在操作員希望繼續(xù)工作時重新加載。
