DiaInspect-P 金剛石自動(dòng)粒子分析儀
DiaInspect-P 自動(dòng)粒子分析儀
DiaInspect-P是一種自動(dòng)顆粒分析儀，專門用于磨料的等級尺寸和形狀分析。
硬件：
該系統(tǒng)的主要部分是具有2個(gè)放大步驟的專業(yè)顯微鏡、數(shù)字控制照明和高質(zhì)量的數(shù)字工業(yè)攝像機(jī)。該顯微鏡配有電機(jī)驅(qū)動(dòng)的旋轉(zhuǎn)軸和自動(dòng)顆粒輸送系統(tǒng)。進(jìn)料器和旋轉(zhuǎn)軸由控制程序控制。攝像機(jī)通過firewire連接到圖像采集系統(tǒng)，從而使圖像處理軟件可以使用圖像。
軟件：
系統(tǒng)操作由一個(gè)易于操作的程序界面控制，該界面在普通PC機(jī)上運(yùn)行。
操作原則：
粒子在旋轉(zhuǎn)的平板上移動(dòng)到顯微鏡中。分析后，將顆粒吹入收集箱。圖像采集系統(tǒng)收集并分析每個(gè)已識別粒子的相應(yīng)圖像，以便能夠檢測到大量單個(gè)粒子。粒度為400µm時(shí)，每分鐘最多可分析5000個(gè)顆粒。測量完成后，將自動(dòng)生成報(bào)告。
特色：
- 一鍵式報(bào)告生成
- 一鍵式數(shù)據(jù)傳輸至EXCEL
- 每個(gè)參數(shù)的直方圖，
- 每個(gè)參數(shù)組合的散射圖
技術(shù)數(shù)據(jù)：
- 電源：110-240伏交流電
- 放大倍數(shù)
- 鏡頭1:8.8µm（像素寬度）2889 dpi
- 鏡頭2:3.7µm（像素寬度）6904dpi
- 測量范圍
- 粒度：230/270-8/10美國篩孔
- 處理時(shí)間：約2-3分鐘（5000個(gè)顆粒的制備和測試，尺寸400µm）
- 系統(tǒng)要求：
- 帶Windows 7或XP 32位（DE或EN）的PC
- 1x USB 2.0端口
- 1x PCI Express
- CPU-CORE : >=2
- CPU-CLOCK : >= 2.5GHZ
- 內(nèi)存：>=2GB
- 監(jiān)視器：>=22”（1680x1050）
計(jì)算參數(shù)：
每個(gè)粒子計(jì)算了20多個(gè)參數(shù)。
- 最小feret直徑
- feret直徑
- 圓當(dāng)量粒徑
- 總面積
- 周長
- 凸周長
- 慣性矩
- 費(fèi)雷特伸長
- 密實(shí)度
- 粗糙度
- 橢圓度
- “透明”顯示區(qū)域的百分比
- “透明”顯示區(qū)域的相對亮度
- CIE L*a*b系統(tǒng)中的顏色坐標(biāo)
數(shù)據(jù)輸出：
軟件保存一個(gè)EXCEL文件，其中包含每個(gè)測試粒子的結(jié)果。每個(gè)產(chǎn)品的第二個(gè)文件存儲20個(gè)參數(shù)的分布曲線。
QC-功能：
測試批次的參數(shù)分布將自動(dòng)與產(chǎn)品的公差帶進(jìn)行比較。
報(bào)告：
打印的報(bào)告將自動(dòng)生成。
