DiaInspect-OSM粒子分析儀
DiaInspect OSM是一種數(shù)字顯微鏡，用于工業(yè)金剛石和其他磨料的尺寸和形狀分析。這種高分辨率的電動顯微鏡適用于從微米到鋸片粒度的各種粒度。
主要特點：
●每個參數(shù)的直方圖，每個參數(shù)組合的散點圖
●所有參數(shù)組合示意圖
●虛擬排序（2D和3D）
●具有多聚焦功能的深聚焦圖像
●孔隙度掃描模塊
●曲面和3D三維掃描模式
●一鍵式報告生成
●一鍵式數(shù)據(jù)傳輸至EXCEL結(jié)果表
●真實粒子、圖像和被測參數(shù)之間的交互連接
DiaInspect OSM是一種自動控制顯微鏡，專門用于磨料和工具的尺寸、形狀和分段分析。它涵蓋了從微米到粗砂的整個粒度范圍。
操作原理：
一定數(shù)量的顆粒必須分散到玻璃板上。當(dāng)檢查粒徑為幾微米的顆粒時，建議濕敷粉末。玻璃板通過XY臺在掃描運動中移動。陣列大小將根據(jù)實際放大級別自動選擇。圖像采集部分從玻璃板的每個部分獲取并分析連續(xù)圖像，因此可以以高圖像分辨率檢測大量單個粒子。
技術(shù)數(shù)據(jù)：
電源：110-230伏交流電。
測量范圍
粒度：1µm…3mm
掃描范圍：76 x 52毫米（XY-stage）
處理時間：約15分鐘（制備和測試2000個粒度為50µm的顆粒）
系統(tǒng)要求：
PC Windows 7 x64或Windows 8 x64
所需：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0
CPU核心數(shù)：>=2
CPU時鐘：>=2GHZ
內(nèi)存：8GB
監(jiān)視器：2x>=22英寸（>=1680x1050）
計算參數(shù)：
每個粒子計算了20多個參數(shù)
- 最小feret直徑
- feret直徑
- 圓當(dāng)量粒徑
- 總面積
- 周長
- 凸周長
- 慣性矩
- 費雷特伸長
- 密實度
- 粗糙度
- 橢圓度
- “透明”顯示區(qū)域的百分比
- “透明”顯示區(qū)域的相對亮度
- CIE L*a*b系統(tǒng)中的顏色坐標
硬件：
該系統(tǒng)的主要部分是5級放大的專業(yè)顯微鏡、數(shù)控照明裝置和高品質(zhì)的數(shù)字工業(yè)攝像機。顯微鏡配有電機驅(qū)動的Z軸和電機驅(qū)動的X軸和Y軸機械分級設(shè)備。所有軸由操縱桿或直接由控制程序控制。攝像機通過USB3連接到圖像采集系統(tǒng)，采集系統(tǒng)可以通過軟件進行圖像處理。
軟件：
系統(tǒng)操作由一個易于操作的程序界面控制，該界面在普通PC機上運行。
報告：
控制程序生成打印報告，其中包含每個參數(shù)的統(tǒng)計結(jié)果以及直方圖和密度圖。對于采集數(shù)據(jù)的科學(xué)工作，傳遞函數(shù)會將所有粒子的每個數(shù)字復(fù)制到EXCEL工作簿中。
特色：
控制程序顯示一個數(shù)據(jù)網(wǎng)格，其中一行包含單個粒子的參數(shù)。只需單擊任意一行，所述粒子的圖片就會顯示在顯示器上。因此，粒子圖像和數(shù)字之間的相關(guān)性更容易理解，這些數(shù)字在數(shù)字上描述了粒子的外觀。
一個特殊的附加組件是虛擬分揀設(shè)備。它允許對檢查的粒子應(yīng)用虛擬排序過程：排序范圍可以通過上述兩個參數(shù)的隨機數(shù)組。密度圖顯示了粒子沿選定參數(shù)的分布。在哪個框中，程序必須將粒子放置在密度圖的某個區(qū)域內(nèi)，只需拖動鼠標即可。在“排序”之后，程序會顯示每個框中的粒子數(shù)量，并為每個框生成一張圖片，顯示現(xiàn)在在框中的粒子。
