多功能電阻率自動(dòng)測(cè)定儀既能測(cè)量粉體材料，又可按試驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量固體棒狀材料的電阻率。

1.用途

  主要用于測(cè)量炭制品和石墨制品以及其它導(dǎo)電棒狀材料在實(shí)驗(yàn)室常溫下的電阻率，包括I型粉體材料電阻率自動(dòng)測(cè)定儀可測(cè)的所有粉體材料。

2.儀器及其特點(diǎn)

  本儀器是在I型粉體材料電阻率自動(dòng)測(cè)定儀的基礎(chǔ)上增加了一個(gè)提供電流的副機(jī)，及測(cè)量棒狀材料所需的兩電極和電位探測(cè)器，它包括I型粉體材料電阻率自動(dòng)測(cè)定儀的所有功能和用途。

3.主要性能指標(biāo)

電流                      （500mA）

測(cè)量電壓              0-5mV

分辯率                 0.1µΩm

電源                     220V±10%  50HZ

功率消耗               <100W

電位探測(cè)器           20-60mm 可調(diào)

測(cè)量試樣直徑        10mm,20mm,45mm

試樣長(zhǎng)度              120mm,160mm,45mm,100mm

外形尺寸      

主機(jī)                   440×420×159，重量：8Kg

副機(jī)                   440×420×159，重量：8Kg

測(cè)試支架            200×200×800，重量：15Kg

*含I型測(cè)量粉體材料電阻率的所有功能和技術(shù)指標(biāo)

4.安裝

  主機(jī)接線與I型相同。副機(jī)接線：電源插頭接電源插座，連機(jī)線的兩端插頭分別接到主、副機(jī)的連機(jī)插座（注意定位糟位置）。將兩電極（銅片）的接頭接A+、A-和電位探測(cè)器的接頭（小測(cè)試架）接V+、V-。

5.電位探測(cè)器之間的距離（L）值和試樣截面積（S）值輸入法

  若以炭、石墨棒為例，試樣大小按GB3074.1-82，測(cè)試方法參照國(guó)標(biāo)GB6717-86。根據(jù)這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)和鋁用炭素材料電阻率測(cè)量行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的要求，測(cè)試樣的長(zhǎng)度不同，截面積不同，所以在測(cè)試時(shí)，要輸入電位探測(cè)器之間的不同距離（L）值和被測(cè)試樣不同的截面積（S）值。

其輸入法為：

  5.1輸入電位探測(cè)器的距離L值：按（H.D）鍵，數(shù)顯“0”，直接從鍵盤輸入L值（以mm為單位）。

  5.2輸入截面積（S）值：依次按N鍵，輸入9999，按p鍵，按S鍵，輸入試樣截面積（以mm為單位）。

6.固體棒狀材料電阻率測(cè)量步驟

  首先打開(kāi)主機(jī)的電源開(kāi)關(guān)，當(dāng)打印機(jī)打印出“測(cè)量粉末”后再打開(kāi)副機(jī)的電源開(kāi)關(guān)，打印機(jī)即打印出“測(cè)量炭棒”，這時(shí)儀器即進(jìn)入棒狀材料的測(cè)試狀態(tài)。

  把欲測(cè)試樣置于正、負(fù)兩電極之間，將其放到測(cè)量支架的傳感器頂蓋上，旋轉(zhuǎn)加壓螺拴夾緊（約600N力）。輸入電位探測(cè)器之間的距離L值；依次按N鍵輸入9999，按P鍵，按S鍵輸入所測(cè)試樣的截面積。按p鍵，此時(shí)數(shù)顯出現(xiàn)p和E交替地變換，將小支架的電位探測(cè)器的兩端子（即V+和V-的電壓）接觸被測(cè)試樣，（見(jiàn)附圖3，注意電流和電壓方向要一致），數(shù)顯p不再跳動(dòng)，此p值即為被測(cè)試樣的電阻率值。參照附圖2，按鍵盤相應(yīng)的鍵，即可顯示或打印出相應(yīng)的測(cè)量結(jié)果。若試樣為圓柱炭棒，可將電位探測(cè)器沿炭棒軸每間隔120º取一p值，每測(cè)一次按存貯鍵（store）一次，按后出現(xiàn)“F”，再脫離接觸，否則存貯數(shù)值發(fā)生變化。將其存貯后，取三組讀數(shù)，zui后按存貯打印鍵（STy），該試樣電阻率p的三次測(cè)試值和三次測(cè)試的平均值，勿需計(jì)算，均可打印出來(lái)。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

1.主機(jī)測(cè)試系統(tǒng)一臺(tái)（千斤頂，傳感器，導(dǎo)向筒一套）

2.GM-I粉體測(cè)試控制箱一臺(tái)；

3.GM-II碳棒測(cè)試控制箱一套，其中包括：測(cè)試架一個(gè)，銅電流兩個(gè)（碳棒直徑520mm,長(zhǎng)度130mm）