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TX-310標簽打印機適配器，可按照客戶需求，將帶有數(shù)據(jù)接口的電子天平/工業(yè)衡器連接到幾乎所有型號的斑馬標簽打印機，在熱敏不干膠標簽、亞銀龍標簽、銅板紙等介質(zhì)上...

半微量分析天平SAB225i/SAB224i/SAB 514i，是研究和質(zhì)量保證實驗室、科學教育、精密計數(shù)、以及需要精確結(jié)果的生產(chǎn)和制造應(yīng)用的理想選擇。用戶可以...

半微量分析天平SAB 124e/SAB 224e/SAB 314e，是研究和質(zhì)量保證實驗室、科學教育、精密計數(shù)、以及需要精確結(jié)果的生產(chǎn)和制造應(yīng)用的理想選擇。用戶...

德國Sartorius Secura系列天平Secura224-1CN/Secura124-1CN主要適用于樣品配方、組分、統(tǒng)計、轉(zhuǎn)換、密度、百分比、檢重、峰值...

艾德姆便攜式電子臺秤LBX 3/LBX 6/LBX 12/LBX 30，操作簡單，配有AC適配器和內(nèi)置可充電電池，是產(chǎn)品生產(chǎn)、倉庫管理、戶外應(yīng)用的理想選擇。電池...

ADAM艾德姆百分之一精密天平ETB3202i/ETB6202e，是研究和質(zhì)量保證設(shè)施、科學教育、精確計算、需要非常精確的結(jié)果的生產(chǎn)和制造應(yīng)用的理想選擇。12個...

ADAM千分之一精密天平EPB363i/EPB723e/EPB1203i，是研究和質(zhì)量保證設(shè)施、科學教育、精確計算、需要非常精確的結(jié)果的生產(chǎn)和制造應(yīng)用的理想選擇...

十萬分之一半微量分析天平EAB125i/EAB225i，擁有高分辨率彩色觸摸屏，Equinox分析天平提供直觀的操作和便捷的功能。Equinox能為實驗室、科學...

天平數(shù)據(jù)打印機TX-180/TX-181/TX-182/TX-183，適用于所有電子天平/工業(yè)稱符合GLP/FDA/GMP認證規(guī)范審計追蹤、數(shù)據(jù)儲存，權(quán)限管理在...

天平數(shù)據(jù)打印機（適合各系列天平）TX-1XX系列天平數(shù)據(jù)打印機專為電子天平/工業(yè)衡器而設(shè)計，可與市場上幾乎所有的電子天平/工業(yè)衡器完美兼容，小巧的外表下蘊藏著強...

天平打印機TX-100/TX-120/TX-110（支持國內(nèi)外各系列天平）天平數(shù)據(jù)打印機有著流線型的外觀，出乎想象的性能，*化學及醫(yī)藥行業(yè)的質(zhì)量要求及GLP、G...

便攜式電子天平LAB-P1002是一款高性價比的便攜式經(jīng)濟型天平。，去皮稱重，計數(shù)功能，液晶顯示，量程：1000g可讀性：0.01g。

PMK精密天平PMK1602ZH/E/PMK2202ZH/E，超大背光LCD顯示屏，稱重結(jié)果顯示清晰。4個機械按鍵，可快速進入多種稱重模式。前置水平調(diào)節(jié)腳，方便...

全自動內(nèi)校分析天平JA203N/JA303N/JA503N/JA603N，全自動時間觸發(fā)內(nèi)部校準，可選自動內(nèi)校時間，支持一鍵校準；新一代電磁力平衡式傳感器，稱重...

內(nèi)校觸控分析天平FA1004T/FA2004T/FA2204T,精度：0.1mg/1mg※ 5寸全彩觸控顯示全自動時間觸發(fā)校準※ 全自動內(nèi)部校準※ RS232※...

分析天平FA214AI/FA314AI/FA414AI/FA514AI/FA614AI,量程漂移（+10 … +30°C）: +/– 2ppm/
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半微量分析天平FA1265SEM/FA2285SEM/FA22105SEM是高度集成式電磁傳感器，其所有型號都可自動內(nèi)部校準，具有高精度和高可重復(fù)性的特點。所有...

賽多利斯精密天平GL8201i-1SCN/GL2201i-1SCN，源于德國的技術(shù)和品質(zhì)，集成各種應(yīng)用程序，單位轉(zhuǎn)換一鍵操作，具有過載保護功能等。Sartori...

賽多利斯分析天平GL224-1SCN/GL124-1SCN，源于德國的技術(shù)和品質(zhì)，外校，集成各種應(yīng)用程序，單位轉(zhuǎn)換一鍵操作，具有過載保護功能等。產(chǎn)品特征1、具有...

德國Sartorius Secura系列天平Secura213-1CN/Secura5102-1CN主要適用于樣品配方、組分、統(tǒng)計、轉(zhuǎn)換、密度、百分比、檢重、峰...