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李女士
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目錄:廣電計量檢測集團(tuán)股份有限公司>>環(huán)境可靠性>>特色檢測>> 飽和濕度試驗 環(huán)境檢測機(jī)構(gòu)
| 服務(wù)區(qū)域 | 全國 | 服務(wù)周期 | 常規(guī)3-5個工作日 |
|---|---|---|---|
| 服務(wù)類型 | 可靠性環(huán)境試驗 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS認(rèn)可，主機(jī)廠認(rèn)可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質(zhì)報告 | 增值服務(wù) | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發(fā)票 | 是 |
協(xié)助客戶制定測試方案，開展測試，出具測試報告。
飽和濕度試驗 環(huán)境檢測機(jī)構(gòu)適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品。多在產(chǎn)品的設(shè)計階段開展,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
JESD22-A118B | 加速濕度抵抗-非偏置高加速應(yīng)力試驗 |
JESD22-A110 | 高加速溫度和濕度應(yīng)力試驗 |
AEC-Q101-Rev-E March1 | 車用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測試驗證 |
AEC-Q100-Rev-H | 集成電路的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測試驗證 |
半導(dǎo)體分立器件、集成電路、微電子器件、IC等的高加速應(yīng)力測試、高壓蒸煮、無偏置HAST、無偏置溫濕度試驗、溫濕度偏置等項目。
CNAS
根據(jù)需求確定。
為什么要做此測試？ HAST高加速老化測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的。
相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST增加了壓力控制，可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期。尤其在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品測試中，HAST高加速老化被作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測試的快速有效替代方案。
1、廣電計量是國內(nèi)專業(yè)的第三方檢驗機(jī)構(gòu)，可提供一站式技術(shù)服務(wù)；
2、廣電計量環(huán)境與可靠性事業(yè)部在全國建立了18個實驗室，擁有專業(yè)的多學(xué)科專家團(tuán)隊和先進(jìn)的檢測設(shè)備；
3、廣電計量環(huán)境與可靠性實驗室具備CMA、CNAS等資質(zhì)，實行全國一體化管控模式，積極參加各類能力驗證項目，確保檢測結(jié)果公正準(zhǔn)確、可追溯；
4、廣電計量在加速老化試驗方面有數(shù)十年積累，具有業(yè)內(nèi)水平的試驗設(shè)備和專業(yè)人才團(tuán)隊。
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