1月11日至12日，備受矚目的后摩爾器件研討會在杭州順利召開。廣電計量作為第三方檢測機構受邀參會，并攜半導體全產業(yè)鏈綜合技術解決方案亮相。公司黨委副書記、總經理明志茂為大會優(yōu)秀poster獲獎者頒獎。
活動由西安電子科技大學杭州研究院、北京大學、杭州電子科技大學聯合舉辦。多位院士聽取了多個項目的匯報并進行了審核，圍繞后摩爾時代芯片領域的關鍵問題展開深入探討與交流。
后摩爾器件研討會
“后摩爾時代新器件基礎研究”面向芯片自主發(fā)展的國家重大戰(zhàn)略需求，以芯片的基礎問題為核心，旨在發(fā)展后摩爾時代新器件和計算架構，突破芯片算力瓶頸，促進我國芯片研究水平的提升，支撐我國在芯片領域的發(fā)展與創(chuàng)新。
會議期間，來自清華大學、北京大學、中國科學院微電子研究所等院校的20多位專家學者，圍繞高能效的憶阻器存算一體芯片研究、突破異質集成的新材料和器件原理研究等項目進行匯報分享。經過專家組的嚴格評審，大會最終評選出15份優(yōu)秀poster，并為其頒發(fā)榮譽證書。廣電計量黨委副書記、總經理明志茂與中科院院士楊德仁受邀共同為獲獎者頒獎。
明志茂表示，廣電計量是全國綜合國有三方計量檢測上市集團公司，面向國家戰(zhàn)略性產業(yè)、國家科技創(chuàng)新、國家質量保障等方面積極開展布局，建有院士工作站、技術研究院，深度參與半導體全產業(yè)鏈建設，誠摯邀請各科研院所、高校專家聯合開展技術攻關，共同推動中國半導體產業(yè)高質量發(fā)展。
明志茂(左一)與中科院楊德仁院士(右一)為獲獎者頒獎
本次活動，廣電計量攜半導體綜合技術解決方案亮相，并發(fā)布廣電計量先進集成電路可靠性評價技術數智化項目，聯動高校、科研院所、企業(yè)等產業(yè)鏈各方力量，聚焦先進集成電路數字孿生建模、人工智能光模塊、宇航級芯片等方向的領域聯合開展科研攻關，共同為半導體自主可控貢獻技術力量。
在半導體領域，廣電計量是全產業(yè)鏈一站式綜合技術解決方案提供商，聚焦高功率、高速度、高集成和高算力的先進半導體及超大規(guī)模集成電路國產自主可控需求，形成以博?、專家為核心的人才隊伍，打造8個專項實驗室及1個功能安全認證中心，構建性能功能測試、可靠性及失效機理分析評估、芯片設計與制程分析、質量等級認證、功能安全評估和量產與批產測試篩選等全棧式技術咨詢服務，可應用在集成電路設計、晶圓制造、封裝、元器件應用等全產業(yè)鏈環(huán)節(jié)。
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