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關聯(lián)工業(yè)顯微鏡

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更新時間：2023-08-20 18:04:00瀏覽次數(shù)：235次

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產品簡介

關聯(lián)顯微鏡技術解決方案的優(yōu)點為了獲得樣品的實質，需要經常使用多種方法進行分析

詳細介紹

關聯(lián)顯微鏡技術

解決方案的優(yōu)點

為了獲得樣品的實質，需要經常使用多種方法進行分析。從微米級到納米級的觀察需要將光學與電子顯微鏡（CLEM）或X射線顯微鏡與FIB-SEM聚焦離子束掃描電子顯微鏡（CXF）進行相關聯(lián)。蔡司的關聯(lián)顯微鏡技術為您提供了集成化的解決方案和無縫銜接的工作流程。選擇蔡司作為光學顯微鏡、電子顯微鏡、離子束顯微鏡和X射線顯微鏡的供應商，并從多年的關聯(lián)分析經驗中受益。選擇以樣品為中心的圖像和數(shù)據(jù)關聯(lián)技術，使您的研究工作超越單一顯微鏡能夠達到的技術界限。

獲得對樣品的見解
無縫地從微米級別轉移到納米級別
采用簡化的工作流程在更短的時間內獲取更多數(shù)據(jù)
受益于強大的圖像和數(shù)據(jù)關聯(lián)處理性能
從2D到4D獲取，處理和分析數(shù)據(jù)
使用關聯(lián)顯微鏡技術中的蓋玻片和夾具進行準確和高效的工作

蔡司關于增材制造的關聯(lián)顯微鏡技術解決方案

深入理解并改善缺陷檢測，并從根源抑制缺陷產生

特點

深入了解缺陷的產生; 如雜質，殘留物，不正確的幾何形狀
了解 CAD圖紙中的材料屬性，粉末質量，激光參數(shù)和布局等屬性的影響
使用高襯度，高分辨率成像以區(qū)分材料中不同的相
在微觀結構內非破壞性地確認三維亞表面特征

蔡司關聯(lián)顯微鏡技術已被證實可成功識別3D打印部件中的雜質，并通過應用多個工作流程來了解其產生原因。蔡司Xradia Versa被用來進行大范圍掃描，然后將可疑的亮點位置轉移到蔡司 Crossbeam中，并用蔡司Atlas 5重新定位，最后利用EDX進行分析。這種方法可以識別雜質的來源，這些雜質往往來自于之前的3D打印作業(yè)，由于使用了不同的粉末材料而未能清潔粉末容器而引入的。

蔡司關于研究納米顆粒結構和化學分析的關聯(lián)顯微技術

提供納米級別材料的定量，高分辨率分析

特點

納米顆粒和納米材料的可視化
觀察納米材料的結構信息
對輕元素和官能團的量化研究

為了使用光學顯微鏡檢測納米顆粒和納米材料（如石墨烯），研究人員使用蔡司Axio Imager顯微鏡優(yōu)異的偏振光襯度，并將其與蔡司全干涉襯度（TIC）模塊相結合，使得可以對納米材料的厚度進行檢測。接下來，使用關聯(lián)顯微鏡技術，使蔡司 FE-SEM可對石墨烯薄片重新定位，以便能夠觀察其結構和化學成分。由于類似碳元素和官能團之類的輕元素通過EDX無法進行表征，研究人員使用蔡司原位拉曼顯微鏡（RISE）進行研究，從而獲得石墨烯片的質量信息。