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JEM-3100F 透射電子顯微鏡

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更新時(shí)間：2023-02-18 12:48:06瀏覽次數(shù)：266次

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電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

JEM-3100F 透射電子顯微鏡

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品概述：

操作簡(jiǎn)易，功能強(qiáng)大

JEM-3100F 場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡是這一級(jí)別電鏡中一款,分辨率可達(dá)0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領(lǐng)域效果突出.控制系統(tǒng)使用藝術(shù)級(jí)的數(shù)字技術(shù), 充分強(qiáng)化了操作的簡(jiǎn)易性。

擁有300KV加速電壓,JEM-3100F不僅很適合過(guò)程測(cè)試,還具有高速檢查經(jīng)聚焦離子束處理過(guò)的比較厚的半導(dǎo)體器件截面的能力。

JEM-3100F是可廣泛用于從研究開(kāi)發(fā)到制造的的工具;包括生物,基本材料研究和開(kāi)發(fā), 實(shí)效分析和質(zhì)量控制等。

產(chǎn)品特點(diǎn)：