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上海艾時微技術開發(fā)有限公司

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原位納米力學測試系統（In-SEM納米壓痕儀 NMT04）

詳細摘要： FT-NMT04是一個多功能的原位SEM/FIB納米力學測試系統，能夠準確地量化材料在微米和納米尺度上的力學行為。
產品型號：所在地：更新時間：2023-10-26 在線留言
臺階儀D-300/500

詳細摘要：臺階儀D-300/500
產品型號：所在地：更新時間：2023-05-15 在線留言
臺階儀D-600

詳細摘要： D-600可以對幾納米到1200µm的2D和3D臺階高度、粗糙度、應力進行測量。
產品型號：所在地：更新時間：2023-05-12 在線留言
臺階儀P-17

詳細摘要： P-17支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，單次掃描高達200mm，無需圖像拼接測量。
產品型號：所在地：更新時間：2023-05-11 在線留言
臺階儀P-7

詳細摘要： P-7可以對nm-µm級臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接
產品型號：所在地：更新時間：2023-05-10 在線留言
光學輪廓儀Zeta-300

詳細摘要： Zeta-300是采用ZDot™技術和Multi-Mode光學系統的落地式非接觸式表面輪廓測試系統。
產品型號：所在地：更新時間：2023-02-18 在線留言
光學輪廓儀Zeta-20

詳細摘要： Zeta-20是采用ZDot™技術和Multi-Mode光學系統的非接觸式表面輪廓測試系統。
產品型號：所在地：更新時間：2023-02-17 在線留言