污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
華林科納(江蘇)半導體設備有限公司
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質其他
所 在 地
聯(lián)系方式:查看聯(lián)系方式
更新時間:2023-01-10 14:14:19瀏覽次數(shù):1162次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線刻蝕方法分為:干法刻蝕和濕法刻蝕,干法刻蝕是以等離子體進行薄膜刻蝕的技術,一般是借助等離子體中產(chǎn)生的粒子轟擊刻蝕區(qū),它是各向異性的刻蝕技術,即在被刻蝕的區(qū)域內(nèi),各個方向上的刻蝕速度不同,通常Si3N4、多晶硅、金屬以及合金材料采用干法刻蝕技術
刻蝕方法分為:干法刻蝕和濕法刻蝕,干法刻蝕是以等離子體進行薄膜刻蝕的技術,一般是借助等離子體中產(chǎn)生的粒子轟擊刻蝕區(qū),它是各向異性的刻蝕技術,即在被刻蝕的區(qū)域內(nèi),各個方向上的刻蝕速度不同,通常Si3N4、多晶硅、金屬以及合金材料采用干法刻蝕技術;濕法刻蝕是將被刻蝕材料浸泡在腐蝕液內(nèi)進行腐蝕的技術,這是各向同性的刻蝕方法,利用化學反應過程去除待刻蝕區(qū)域的薄膜材料,通常SiO2采用濕法刻蝕技術,有時金屬鋁也采用濕法刻蝕技術。 二氧化硅腐蝕: 在二氧化硅硅片腐蝕機中進行,腐蝕液是由HF、NH4F、與H2O按一定比例配成的緩沖溶液。腐蝕溫度一定時,腐蝕速率取決于腐蝕液的配比和SiO2摻雜情況。摻磷濃度越高,腐蝕越快,摻硼則相反。SiO2腐蝕速率對溫度最敏感,溫度越高,腐蝕越快。 具體步驟為: 1、將裝有待腐蝕硅片的片架放入浸潤劑(FUJI FILM DRIWEL)中浸泡10—15S,上下晃動,浸潤劑(FUJI FILM DRIWEL)的作用是減小硅片的表面張力,使得腐蝕液更容易和二氧化硅層接觸,從而達到充分腐蝕; 2、將片架放入裝有二氧化硅腐蝕液(氟化銨溶液)的槽中浸泡,上下晃動片架使得二氧化硅腐蝕更充分,腐蝕時間可以調整,直到二氧化硅腐蝕干凈為止; 3、沖純水; 4、甩干。 二氧化硅腐蝕機理為: SiO2+4HF=SiF4+2H2O SiF4+2HF=H2SiF6 H2SiF6(六氟硅酸)是可溶于水的絡合物,利用這個性質可以很容易通過光刻工藝實現(xiàn)選擇性腐蝕二氧化硅。為了獲得穩(wěn)定的腐蝕速率,腐蝕二氧化硅的腐蝕液一般用HF、NH4F與純水按一定比例配成緩沖液。 由于基區(qū)的氧化層較發(fā)射區(qū)的厚,以前小功率三極管的三次光刻(引線孔光刻)一般基極光刻和發(fā)射極光刻分步光刻,現(xiàn)在大部分都改為一步光刻,只有少部分品種還分步光刻,比如2XN003,2XN004,2XN013,2XP013等。但是由于基區(qū)的氧化層一般比發(fā)射區(qū)的厚,所以刻蝕時容易發(fā)生氧化區(qū)的侵蝕。 二氧化硅腐蝕后檢查: 1、窗口內(nèi)無殘留SiO2(去膠重新光刻); 2、窗口內(nèi)無氧化物小島(去膠重新光刻); 3、窗口邊緣無過腐蝕(去膠重新光刻); 4、窗口內(nèi)無染色現(xiàn)象(報廢); 5、氧化膜無腐蝕針孔(去膠重新光刻); 6、氧化膜無劃傷等(去膠重新光刻)。 Al上CVD腐蝕: 摻磷的SiO2是磷硅玻璃,如果PSG是長在鋁上做鈍化層,這時采用二氧化硅腐蝕液腐蝕會傷及鋁層,所以一般采用如下腐蝕液:冰乙酸:氟化銨=2:3。具體步驟為: 1、將裝有待腐蝕硅片的片架放入浸潤劑(FUJI FILM DRIWEL)中浸泡10—15S; 2、將片架放入裝有腐蝕液(冰乙酸:氟化銨=2:3)的槽中浸泡,并且上下晃動片架; 3、將片架放入裝有甲醇溶液(甲醇:純水=1:1)的槽中浸泡; 4、在溢流槽中溢流沖水; 5、沖純水; 6、甩干。 鋁腐蝕: 在鋁腐蝕清洗機中進行,具體步驟為: 1、將裝有待鋁腐蝕硅片的片架放入浸潤劑(FUJI FILM DRIWEL)中浸泡10-15s,并且上下晃動; 2、將片架放入裝有45℃左右的鋁腐蝕液(磷酸+硝酸+醋酸+純水)的槽中浸泡,上下晃動片架,使得鋁腐蝕更充分,腐蝕的時間根據(jù)先行片的腐蝕時間進行調整,直到腐蝕后看到二氧化硅表面為止; 3、沖純水; 4、甩干:在甩干機中甩干后烘干。 磷酸約占80%,主要起腐蝕鋁的作用,硝酸占1%-5%,其與鋁反應生成溶于水的硝酸鹽,可以提高腐蝕速率,但含量過多會影響光刻膠抗蝕刻能力,醋酸占10%左右,它能降低腐蝕液的表面張力,增加硅片與腐蝕液的浸潤效果,提高腐蝕均勻性,同時具有緩沖作用,純水占5%左右。 鋁腐蝕后檢驗,主要項目有: 1、連鋁、鋁過腐蝕、鋁條間殘鋁、鋁條不過細、鋁條氧化——去膠后重新蒸鋁; 2、鋁條變色(灰、黑、黃)——如果變色嚴重則報廢。 SIPOS腐蝕: 1、將裝有待腐蝕硅片的片架放入浸潤劑(FUJI FILM DRIWEL)中浸泡20—30S,上下晃動; 2、將片架放入裝有腐蝕液(40%NH4F溶液:H2O:40%HF溶液=10:6:1)的槽中浸泡,并且上下晃動片架; 3、沖純水; 4、甩干。 等離子體刻蝕: 等離子體刻蝕可用于刻蝕SiO2,Si3N4,多晶硅等,但是,通常氧化硅用濕法腐蝕快,而氮化硅也可以采用二氧化硅腐蝕液,但是腐蝕速度慢,因此氮化硅刻蝕用干法刻蝕,所用的設備有901E/903E TEGAL plasma etching system型等離子刻蝕設備,用的的刻蝕氣體有:CF4、O2、N2、SF6、CHF3、NF3、He、C2F6等。 1)Si3N4刻蝕: 在903E刻蝕機中刻蝕,刻蝕機內(nèi)通入的氣體有:CF4、NF3、He。 刻蝕機理是: CF4電離→CF3+F*(氟自由基) CF3電離→CF2+F* CF2電離→CF1+F* 12F*+ Si3N4→3Si F4↑+2 N2↑ 氟游離基的作用是使氮化硅被腐蝕,生成物是氣體,被真空裝置抽氣抽走。為了加快腐蝕速率可以在CF4中加入少量氧氣(5%-8%),因為氧能夠抑制F*在反應腔壁的損失,并且:CF4+O2→F* +O*+COF*+COF2+CO+…… (電離) COF*壽命較長,當它運動到硅片表面時發(fā)生以下反應從而加速了腐蝕速率: COF*→F* CO (電離) 但是氧氣加多了要腐蝕光刻膠降低選擇比。 2)SIPOS、多晶硅刻蝕: 在901E刻蝕機中刻蝕,刻蝕機內(nèi)通入的氣體有:SF6。 玻璃腐蝕: 1、 配制5%HF溶液, 配制腐蝕液:5%HF溶液:H2O=3:50; 2、常溫下,將硅片放入腐蝕液中浸泡; 3、在溢流槽中沖洗; 4、沖純水; 5、甩干。 濕法去膠: 鋁淀積前去膠在SH去膠機(濕法腐蝕機)中進行,采用SH溶液將膠氧化的方法去膠,具體步驟為: 1、在SH清洗劑(98%H2SO4:H2O2=3:1)中浸泡; 2、在溫純水中溢流沖水; 3、在溢流槽中溢流沖水; 4、甩干。 由于酸對鋁有腐蝕作用,淀積鋁后去膠就不能用酸,在此采用有機溶劑OMR502剝離液去膠,在OMR剝離清洗機中進行,具體步驟為: 1、在剝離液(OMR-83剝離液)中浸泡去除光刻膠; 2、再在H-1清洗劑中浸泡去除剝離液; 3、在異丙醇中浸泡去除H-1清洗劑; 4、沖純水; 5、甩干。 等離子體干法去膠: 用HDK-2型等離子刻蝕去膠機去膠,在去膠機內(nèi)通入刻蝕氣體O2。等離子體內(nèi)的活化氧使有機物在(50—100)℃下很快氧化,生成CO2、CO、H2O等揮發(fā)性成份,從而達到去膠目的。 特殊膠(PI鈍化產(chǎn)品、帶膠注入產(chǎn)品):PI去膠時除了O2,再加適量的CF4,如果去不干凈再在等離子刻蝕機上用SF6處理。 一般在Si3N4刻蝕后去膠用有機溶劑剝除,然后在等離子體去膠機中去膠絲,刻蝕后在顯微鏡下觀察硅片表面是否有殘絲。 去膠后檢查: 1、有殘膠——再去膠; 2、有殘液——再清洗; 3、有殘跡——用1號液清洗; 4、窗口有二氧化硅或鋁殘留。 半導體濕法腐蝕刻蝕清洗
下面分別介紹各種薄膜的腐蝕方法流程:
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
環(huán)保在線 設計制作,未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
請輸入你感興趣的產(chǎn)品
請簡單描述您的需求
請選擇省份
聯(lián)系方式
華林科納(江蘇)半導體設備有限公司