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動態(tài)薄膜干燥度分析儀Horus

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更新時間：2025-01-25 12:23:08瀏覽次數(shù)：80次

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動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動

詳細(xì)介紹

動態(tài)干燥度分析儀利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動。測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。通過對膜的干燥動力學(xué)曲線的分析，可以得到有關(guān)膜形成過程中分子運(yùn)動及重排等信息。

利用多散斑擴(kuò)散波光譜學(xué)，在膜形成的過程中研究顆粒的運(yùn)動。測量系統(tǒng)包括一個產(chǎn)生干涉的激光光源、接受干涉的背散射光的檢測器。干涉的圖像被稱作散斑圖像，由多像素檢測器檢測。

的干涉光斑光譜成像技術(shù)可以記錄從粒子的從運(yùn)動速度非?？欤衲ぃ┑竭\(yùn)動速度非常緩慢（干膜）的速度變化動態(tài)。變化的動力學(xué)過程可以通過流動性因子對時間的變化關(guān)系曲線進(jìn)行量化。

可以測量不同基底：金屬、塑料、玻璃、木頭、混凝土、紙、薄膜…

- 可以測量膜的厚度 : 高達(dá)500 µm

- 數(shù)據(jù):

1. 成膜動力學(xué)報告：流動性因子對時間的變化關(guān)系曲線

2. 根據(jù)膜的類型（水劑涂料或其他），自動計算特征點(diǎn)

3. 特征點(diǎn)的數(shù)據(jù)表摘要

4. 數(shù)據(jù)可以輸出到excel表格中

主要規(guī)格

檢測頭：

光源: 650 nm激光光源 (class II – 0.9 mW)