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OLED器件IVL測試、壽命測試和外量子效率三合一的光學(xué)測試

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更新時間：2023-05-09 16:08:07瀏覽次數(shù)：378次

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產(chǎn)品簡介

為滿足科研類測試的需求，弗士達提供集成IVL測試和視角測試、壽命測試、光通量和外量子效率功能的多合一機臺。增加了高精度的多通道電源為多工位的壽命測試提供定電流或定電壓輸出，器件的亮度則由光譜儀逐一掃描...

詳細介紹

系統(tǒng)概述
為滿足科研類測試的需求，弗士達提供集成IVL測試和視角測試、壽命測試、光通量和外量子效率測試功能的多合一機臺。增加了高精度的多通道電源為多工位的壽命測試提供定電流或定電壓輸出，器件的亮度則由光譜儀逐一掃描各工位得到。為準確測量器件的外量子效率，增加了一個光通量測試用積分球和光纖光譜儀，將器件置于積分球內(nèi)部，進行光通量和外量子效率的測量。內(nèi)置的校正A光源可提升光通量測試準確性。

I-V-L曲線測量的設(shè)定
1.可以設(shè)定起始電壓、終止電壓、電壓步長，進行連續(xù)的測量
2.可以設(shè)定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長，進行連續(xù)測量
3.可以單獨設(shè)定電流密度的亮度檢測下限值，低于下限值時僅測電流電壓，超過下限值后同時測電壓電流亮度等數(shù)據(jù)
4.可以設(shè)定并保存設(shè)定的機種參數(shù)，下次測量時可以直接調(diào)用

I-V-L的測量數(shù)據(jù)
測量的結(jié)果包括：亮度L(cd/m²)，電流效率(mA/cm²)，發(fā)光效率，外量子效率，色坐標(x，y)，色溫，顯色指數(shù)CRI，發(fā)光光譜.
輸出的測量項報表中的圖表包括： Cdens-V， Cdens-L， Cdens-LumE， Cdens-EQE， CIE1931，Spectra

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