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ED400渦流測厚儀| ED400涂層測厚儀| ED400氧化膜測厚儀

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更新時間：2022-11-08 15:41:52瀏覽次數(shù)：256次

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產(chǎn)品簡介

ED400渦流測厚儀| ED400涂層測厚儀| ED400氧化膜測厚儀主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度，儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。

詳細介紹

ED400型渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。

ED400渦流測厚儀適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

ED400渦流測厚儀適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查，可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。

ED400渦流測厚儀儀器特點：

ED400型渦流測厚儀與ED300型相比，具有如下特點：

量程寬： ED400型渦流測厚儀量程達到0～500 μm。

精度高：測量精度達到2%。
分辨率高：分辨率達到0.1 μm。
校正簡便 ：只校正“0"和“50 μm"兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
基體導(dǎo)電率影響小：基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量誤差不大于1～2 μm。
可靠性提高：采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
穩(wěn)定性提高：采用的溫度補償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。

探頭芯壽命長：采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計，探頭芯壽命可大大延長。

ED400渦流測厚儀技術(shù)參數(shù)：

	測量范圍：	0～500 μm
	測量精度：	0～50 μm：±1 μm；
		50～500 μm：±2%
	分辨率：	0～50 μm：0.1 μm；
		50～500 μm：1 μm；
		0～500 μm：1 μm（可選）
	使用溫度：	5～45℃
	外形尺寸：	150 mm×80 mm×30 mm
	重量：	280 g