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L74 HM光學法熱膨脹儀 - Heating Microscope

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更新時間：2022-10-09 12:55:19瀏覽次數(shù)：290次

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林賽斯（上海）儀器設(shè)備有限公司

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產(chǎn)品簡介

LINSEIS DIL L74 (加熱顯微鏡）光學法熱膨脹儀的提供實時成像分析。以高達每秒10s點的數(shù)據(jù)采樣速率在大視場（10mm x 14mm）上將細節(jié)分解為微米級。DIL L74HM強大的功能實現(xiàn)了燒結(jié)收縮、蠕變、熔化行為、體積變化和接觸角的實時測量?，F(xiàn)在具有氣體處理能力的真空密封設(shè)計可在寬溫度范圍（-150至2000°C）上解決新的應(yīng)用領(lǐng)域問題。

詳細介紹

LINSEIS DIL L74 (加熱顯微鏡）光學法熱膨脹儀的提供實時成像分析。以高達每秒10s點的數(shù)據(jù)采樣速率在大視場（10mm x 14mm）上將細節(jié)分解為微米級。DIL L74HM強大的功能實現(xiàn)了燒結(jié)收縮、蠕變、熔化行為、體積變化和接觸角的實時測量?，F(xiàn)在具有氣體處理能力的真空密封設(shè)計可在寬溫度范圍（-150至2000°C）上解決新的應(yīng)用領(lǐng)域問題。

??LINSEIS評估軟件自動評估視頻及圖像，包括自動確定潤濕/接觸角和粘度溫度點。符合標準：DIN51730、ISO540或CEN/TS 15404。

加熱顯微鏡的主要優(yōu)點

非接觸式膨脹測量
可測固體的CTE與熔體的體積變化
可在多種環(huán)境下工作
溫度范圍從-150°C到2000°C
自動評估相關(guān)溫度點
實時視頻和圖像錄制
適用于CTE和光學顯微鏡的光學優(yōu)化套件（單獨或組合）

技術(shù)參數(shù)

型號	L74 heating microscope
光學測量系統(tǒng)	配備高分辨率相機和全自動對角的加熱顯微鏡
溫度范圍	-100°C至500°C RT 至500/1000/1500/2000°C
測量系統(tǒng)	光學非接觸
精度	1μm
視場	10 x 14 mm
氣氛	惰性，還原，氧化，真空（可選）
真空度	10 E^-5mbar
加熱速率	0.01 至100 ℃/min（取決于爐體）
標準	ASTM D1857, CEN/TR 15404,BS 1016:Part 15, CEN/TS 15370-1, DIN 51730, IS 12891, ISO 540, NF M03-048
形態(tài)測量	高度、寬度、接觸角、高寬比、面積、圓度，用戶也可以自由選擇
接口	USB

所有的LINSEIS熱分析設(shè)備都是用計算機控制的，各個軟件模塊均可在Microsoft ® Windows®操作系統(tǒng)上運行。完整的軟件包括3個模塊：溫度控制，數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)評估。與其他熱分析系統(tǒng)一樣，可用于熱膨脹測量的32位Linseis軟件可以實現(xiàn)所有測量準備、實施和評估的基本功能。經(jīng)過專家和應(yīng)用工程師的努力，LINSEIS開發(fā)出這款容易操作且實用的軟件。

一般特點