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丞普諾儀器（蘇州）有限公司
丞普諾儀器（蘇州）有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時間：2022-09-26 15:35:20瀏覽次數(shù)：142次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線測厚儀產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號XTU-A類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺移動范圍50mm*50mmXY軸工作臺承重5KG測量元素范圍CI（17）-U（92）不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍CI（17）-U（92）分析軟件同時分析23個鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準(zhǔn)直器φ0
| 品牌 | 一六儀器 | 型號 | XTU-A |
| 類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
| 儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺移動范圍 | 50mm*50mm |
| XY軸工作臺承重 | 5KG | 測量元素范圍 | CI（17）-U（92） |
| 不同層相同元素檢查能力 | 選配 | 涂鍍層分析范圍 | CI（17）-U（92） |
| 分析軟件 | 同時分析23個鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
| 準(zhǔn)直器 | φ0.5mm、φ0.2mm兩準(zhǔn)直器任選一種 | 測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異行物品，變焦距離可達(dá)0-30mm |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 | 樣品臺移動 | 手動無滑軌 |
| 其他附件 | 電腦一套，噴墨打印機(jī)，附件箱，12元素片，電鍍液測量杯（選配）標(biāo)準(zhǔn)片（選配） |
丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品*可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計制造經(jīng)驗。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測設(shè)備，它在平時的使用中對于度的要求很高，但是還是會有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇"，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6、試件的變形
測量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
8、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測量頭和被測試件表面直接接觸。
10、測量頭壓力
測量頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
11、測量頭的取向
測量頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測量頭與試樣表面保持垂直。
膜厚儀分類
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
膜厚儀采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
膜厚儀主要性能優(yōu)勢：采用極速探測器技術(shù)；探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低；采用大功率X光管及的數(shù)字多道技術(shù)；光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度；精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點；多點測試，多點連續(xù)測試超小樣品檢測；人性化的設(shè)計：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機(jī)。
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