束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： 靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的過程控制。標(biāo)準(zhǔn)的軟件接口，便于連接到許多...
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詳細(xì)摘要： 低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無(wú)需內(nèi)置自動(dòng)化?？蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品，高達(dá)156毫米硅磚，結(jié)果可...
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詳細(xì)摘要： MDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測(cè)量參數(shù)，如載流子壽命、光...
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詳細(xì)摘要： PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。
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詳細(xì)摘要： 用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC+太陽(yáng)能電池、鈣鈦礦等中的硅材料。
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詳細(xì)摘要： 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無(wú)需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)量時(shí)間將少于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國(guó)Fra...
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詳細(xì)摘要： 用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國(guó)FraunhoferC...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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