Map薄膜厚度測(cè)繪儀用于測(cè)量厚度分布，評(píng)價(jià)薄膜厚度的均一性，可與所有MProble系列的薄膜測(cè)厚儀聯(lián)用。
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)
Map薄膜厚度測(cè)繪儀用于測(cè)量厚度分布，評(píng)價(jià)薄膜厚度的均一性，可與所有MProble系列的薄膜測(cè)厚儀聯(lián)用。
厚度測(cè)繪臺(tái)包含：
1. XY電動(dòng)載物臺(tái)，行程：150mm/200mm/300mm
2. 19英寸鋁制底座
3. 探頭適配器
4. 載物臺(tái)控制器
5. 厚度拼圖軟件


薄膜厚度分布圖（厚度以顏色標(biāo)示）：


厚度測(cè)繪軟件：