一、主要性能特點(diǎn)
1、同時(shí)分析測量多種元素（從Na到U的任意多種元素）；
2、采用上照式設(shè)計(jì)，*避免污染，操作方便，無需維護(hù)；
3、對樣品進(jìn)行無損分析，分析方便快捷；
4、全自動(dòng)機(jī)電一體化設(shè)計(jì)，操作界面簡單；
5、八樣品自動(dòng)進(jìn)樣，樣品自動(dòng)檢測，采用多層保護(hù)*屏蔽X射線對人體的輻射；
6、良好的溫度控制設(shè)備，儀器對外界的氣溫變化不敏感；
7、對樣品形態(tài)要求少，固體、液體、粉末樣品均可以直接檢測，無需復(fù)雜的制樣過程；
8、采用SDD探測器，分析速度快，精確度高，穩(wěn)定性好，故障率低；
9、WINDOWS系統(tǒng)下的中文操作軟件，方便國內(nèi)用戶使用。不同層次的操作員可隨時(shí)調(diào)用相關(guān)幫助菜單來指導(dǎo)對儀器的操作。
二、主要技術(shù)指標(biāo)：
1．探測器
-- SDD硅漂移探測器（電制冷，只需要通電即可）
--典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS).
--輸入計(jì)數(shù)率：100KCPS，遠(yuǎn)大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右)
--峰背比：>20000
--鈹窗厚度：8um Dura Be（一般的探測器在25um,對輕元素有更好的透過率，*的Dura技術(shù)
Be窗可以耐酸，堿的腐蝕）
--處理器：數(shù)字電路，放大倍數(shù)，時(shí)間常數(shù)可任意設(shè)置。
--高壽命，借助于其*的Dura Be技術(shù)，探測器在幾年的時(shí)間內(nèi)探測器的真空不會變壞，晶體不會損傷，無需擔(dān)心后期的維護(hù)費(fèi)用
2.X射線管
--高壓：0-50Kv連續(xù)可調(diào)
--電流：0-1000uA連續(xù)可調(diào) （0-2500uA可選，大電流對Na-K有更好的激發(fā)效果）
--功率：50W
--穩(wěn)定性：8小時(shí)0.2%
--高壽命，正確操作的情況下壽命可以達(dá)到50000小時(shí)
3. 高壓發(fā)生器
--輸入電壓：24VDC
--輸入電流：4A
--輸出電壓：50Kv，1mA(2.5mA可選，適配2500mA光管)
--功率：50W
--穩(wěn)定性：8小時(shí)0.05%
4. 精密結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
--垂直倒角設(shè)計(jì)，精密的控制保證優(yōu)異的重復(fù)性，上照式設(shè)計(jì)可以*避免灰塵的污染，使得儀器可以做到真正的免維護(hù)
5. 冷卻散熱系統(tǒng)
--良好的多級溫控自反饋電路，室溫在5-25℃，儀器結(jié)果不會有影響。
6.自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)
--8樣品自動(dòng)進(jìn)樣
7.光譜分析系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)
--16位模/數(shù)轉(zhuǎn)換器
--19英寸顯示器
--500G以上硬盤驅(qū)動(dòng)
--多功能標(biāo)準(zhǔn)鍵盤
--打印機(jī)
8.分析軟件
--元素測量范圍：Na-U
--可以測量鍍層厚度
--標(biāo)準(zhǔn)曲線法，理論系數(shù)法，基本參數(shù)法，多元比例法 使您輕松應(yīng)對各種樣品的分析
--開放式軟件設(shè)計(jì)，您可以自己開發(fā)新的工作曲線
--內(nèi)置式參數(shù)設(shè)計(jì)，您在自己制作工作曲線時(shí)，各種干擾自動(dòng)扣除。
9.尺寸規(guī)格
--長900mm寬500mm高620mm --重量約100kg
10.電源要求
--220V±10% 50Hz
11.工作環(huán)境
--溫度范圍：5—30℃。
--相對濕度小于等于80%
暫無信息 |
環(huán)保在線