基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。 X-Strata 920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。四種樣品臺配置，分別是標準臺、井深式、加寬式、程控式，可依照需求分析任何形狀的部件樣品。
- 開槽式樣品倉設(shè)計，可以測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器 寬度的印制線路板或小型的連接器，接插件樣品。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測點
- 樣品尺寸：270 x 500 x 150mm
- 最小的準直器：0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
- 可根據(jù)需求選擇檢測器-正比計數(shù)器(Ti鈦~-U鈾)或高分辨率 (Al鋁 -U鈾)SDD
- 可以分析金屬膜厚及成分, 從原子序號22~至92的典型元素的電鍍層、化學鍍層
- 多層多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
- Z 軸自動控制, Z 軸自動對焦系統(tǒng)
- 鈷二次濾光片，用于準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量
- 數(shù)量準直器：6個
- 金屬薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同
- Hitachi SmartLink FP 基本參數(shù)法
| 項目 | 描述 |
|---|---|
| 測量方向 (X射線照射方向) | 從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦 |
| 外形尺寸 | 寬 x 深 x 高 [mm]： 約 407 x 770 x 400 mm |
| 樣品臺設(shè)計 | 開槽式樣品倉，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器 寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm） 樣品倉內(nèi)部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高) |
| X射線源 | W 靶射線管 |
| 高壓發(fā)生器 | 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發(fā)生器，高壓多檔可調(diào) |
| 二次濾光片 | 鈷二次濾光片，用於準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。 |
| X射線接收器檢(探測器) | 正比計數(shù)器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD |
| 元素範圍 | 鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD） |
| 視頻系統(tǒng) | 彩色 CCD，30 倍光學放大， 200%、300%和 400%數(shù)位放大。樣品分析區(qū)域 在使用者介面顯示，清晰、易用。 |
| Z 軸自動對焦系統(tǒng) | 鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到測試距離。 「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在螢?zāi)簧希?br>注：測試距離為 12.7mm，由 X 射線測試頭自動調(diào)節(jié)高度（Z 軸）。 |
| 可測量的鍍層 元素範圍 | 元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素 |
| 可測量的鍍層層數(shù) | 最多可同時測量 4 層（不含基材） |
| 可測鍍層厚度範圍 | 通常約 0.03 微米到 30 微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同。 |
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