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場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)TALOS F200X

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

性能指標(biāo)加速電壓:200KV；電子槍：肖特基熱場(chǎng)發(fā)射超亮電子槍；TEM點(diǎn)分辨率：0.25nm；TEM信息分辨率:0.12nm；STEM分辨率:0.16nm；樣品傾斜角度X/Y：30；能譜能量分辨率：136ev;元素檢測(cè)范圍：B～U元素

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

主要應(yīng)用

樣品要求

透射電鏡不能直接觀察所有含有鐵鈷鎳元素的樣品，請(qǐng)做如下處理，否則不予以觀察：粉末樣品請(qǐng)包埋切片，塊體樣品請(qǐng)F(tuán)IB切片；
透射電鏡能夠觀察200nm以下的樣品；
對(duì)于粉末和液體樣品，要求樣品均勻分散在支持膜上并且干燥，能夠區(qū)分正反面；
對(duì)于塊體樣品，要求樣品大小為直徑3mm的圓，厚度小于200nm；
高分辨樣品要求厚度小于10nm。

儀器說明

FEI Talos F200X 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡的電子槍為肖特基熱場(chǎng)發(fā)射超亮電子槍，STEM 分辨率可以達(dá)到0.16nm。
配備4個(gè)SDD探頭的超級(jí)能譜集成到了透射電鏡的極靴里面，對(duì)稱地放在樣品的上方，可以高效率探測(cè)到微量元素，以及材料成分在一維，二維，甚至三維空間的分布信息。
Talos F200X 還安裝了STEM明場(chǎng)和暗場(chǎng)探頭，可以同時(shí)得到STEM的明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像以及髙角環(huán)形暗場(chǎng)像（HAADF）。

關(guān)鍵詞：能譜儀

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