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詳細摘要： 倒置金相顯微鏡采用優(yōu)質(zhì)的遠光學系統(tǒng)，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統(tǒng)設計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數(shù)碼攝像裝置觀察。

詳細摘要： 正置金相顯微鏡是針對半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的，作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其強較性能.

詳細摘要： 菲希爾測厚儀其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)而設計。專注于重要的功能，在控制成本的同時仍只采用廣受認可、高質(zhì)量的組件。

詳細摘要： FMP100系列便攜式測厚儀通過磁感應法和電渦流法進行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量；

詳細摘要： 手持式涂鍍層測厚儀高效的測量；充足的內(nèi)存，可用于數(shù)千個應用，以及多種統(tǒng)計與顯示功能；

詳細摘要： MP0R 系列便攜式測厚儀能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現(xiàn)場可靠測量的理想設備。

詳細摘要： 便攜式測厚儀同樣采用久經(jīng)考驗的WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現(xiàn)無校準（不需標準片）測量。

詳細摘要： CMS2臺式測厚儀通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試，以...

詳細摘要： MMS PC2臺式測厚儀堅固耐用且功能豐富的臺式儀器，可用作多功能測量系統(tǒng)，并可保存和處理測量數(shù)據(jù)

詳細摘要： XDL臺式測厚儀提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。

詳細摘要： 臺式測厚儀配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量較薄的鍍層

詳細摘要： 防腐材料壁厚測厚儀型號豐富，從入門級到高精度級。多種測量模式，包括A掃描和B掃描、回波-回波測量和聲速模式。

詳細摘要： 奧林巴斯探傷儀體積雖小，但卻有著許多通常只有更大的探傷儀才具有的功能。EPOCH LT探傷儀除了具有快速

詳細摘要： 塑料分析儀就可以勝任這項工作，在數(shù)秒內(nèi)提供快速、便捷的塑料鑒別解決方案，并且提供的報告有多種選擇。它在以下的過程中表現(xiàn)出良好的輕便和穩(wěn)定的性能：塑料采購、處理和...

詳細摘要： 手持式拉曼分析儀和ASSURx 5分析儀配合使用 。 ASSURx-G5型分析儀和ASSURx-G7 型分析儀之間能夠方便的進行數(shù)據(jù)庫轉(zhuǎn)移。

詳細摘要： 經(jīng)濟型拉曼分析儀的系統(tǒng)易于使用，具有強大、友好的RamanReader軟件，能夠在較低的維護條件下提供*出色的可靠性。

詳細摘要： 高性能拉曼分析儀在線過程控制，包括PAT測量：結(jié)構(gòu)分析、多晶型、加氫過程、溶液測量、相變、以及反應監(jiān)測

詳細摘要： 高性能氣相拉曼光譜儀配有532 nm DPSS激光, 高瑞利阻擋光纖探頭以及~8 cm-1 高分辨率光譜儀，光譜覆蓋范圍為~250 - 4,200 cm-1 。

詳細摘要： CHEMLITE PLUS激光金屬分析儀集成了新型高性能硬件，用于測量鋁、鎂、鈦、鐵、銅和鎳合金；具有更快的測量速度，只需1秒鐘即可完成測量；具有更高的靈敏度，...

詳細摘要： 激光金屬分析儀采用打點即測的分析方式，測試快速準確，安全*，并且它牢固耐用，幾乎不需要維護成本，使用它可以較大地提高企業(yè)的生產(chǎn)率。