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柜谷科技發(fā)展（上海）有限公司
主營產品： Brookfield質構儀,HAAKE擠出機,日立掃描電鏡 |
公司信息
| 參考價 | 面議 |
- 型號
- 品牌
- 廠商性質 代理商
- 所在地 上海市
日本理學下照式X射線熒光光譜儀技術參數：
分析對象:4Be-92U
分光系統:波長色散式
X射線發(fā)生部
X射線管:端窗式Rh靶 4kW或3kW
高壓發(fā)生器:高頻變頻器方式
額定電壓,電流:4kW,60kV-150mA
穩(wěn)定度: 正負0.005%(對于正負10%輸入變動)
冷卻水:水冷冷卻水(內置)
分光部
樣品交換機:從12,24,36,48樣品4種中選擇一種
樣品尺寸:51mmx30mm(H)
分析樣品面:zui大35mm
樣品旋轉:30rpm
1次X射線濾波片:4種(Al,Ti,Cu,Zr)
視野限制光闌:6種自動交換機構(35,30,20,10,1,0.5)
發(fā)散狹縫:3種自動交換機構(標準分辨率,高分辨率,超輕元素用(選件)
接受狹縫:SC用,F-PC用
測角儀:獨立驅動
測角范圍:SC5-118度 F-PC:13-148度
zui大掃描速度:1400度/min
連續(xù)掃描:0.1-240度/min
晶體交換:10晶體交換
分光晶體:標準:liF(200),Ge,PET,RX25 選件:LiF(220),RX4,RX9,RX40,RX45,RX61,RX75,RX80,RX61F,TAP
真空:雙真空室(雙真空泵),粉末樣品附件(選件)
氦氣置換機構:帶隔板
恒溫化機構:36.5度
記數.控制部:重元素用:SC,記數線性:1000kcps,輕元素用,芯線加熱自動清洗
衰減器:IN-OUT自動切換
硬件:計算機:windouws PC
軟件:定性分析(自動鑒定解析功能(平滑,扣背景)
定量分析:檢量線法JIS法,各種基體校正,無標樣分析法)EZ掃描,應用模板,
樣品徑自動選擇,譜峰分離,定精度測試,傳送功能,多功能標準樣品
其它為選件
維護功能:自動PH調整(PAS),全自動芯線清洗,自動老化,自動診斷,遠程診斷
日本理學下照式X射線熒光光譜儀主要特點：
硬件:
采用新光學系統
1新型分光晶體,大幅度提高輕元素的靈敏度.
超輕元素對應的X射線光管(4kW,30薄窗)
48樣品交換器
1次濾波片
雙真空,雙泵
粉末附件,防止污染真空泵
定點分析:zui小直徑500,MAPPING分辨率100
節(jié)省空間,節(jié)能
軟件
新的SQX軟件
委托分析EZ掃描
定角度測試模式
應用摸板
散射線FP法
流程條
其他軟件
應用軟件包
