CST520陣列電極電位電流掃描儀采用10×10陣列（絲束）電極（wire beam electrode，WBE）來模擬整塊金屬試樣表面，通過自動(dòng)掃描WBE表面的電位/電流分布，可得到涂層或生物膜下的電極電位及偶接電流分布，評(píng)估金屬材料的局部腐蝕行為。

     CST520內(nèi)置高阻電壓跟隨器和零阻電流計(jì)（ZRA），可以精確測量任一單電極相對(duì)于參比電極的開路電位以及偶接電流，無需擔(dān)心外部極化可能會(huì)破壞微區(qū)腐蝕環(huán)境，特別適合于金屬在非擾動(dòng)狀態(tài)下的自發(fā)腐蝕行為研究。CST520內(nèi)部集成雙路高精度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器,其zui高采樣分辨率為24bit，zui高采樣速率1000Hz, 前端運(yùn)放采用斬波穩(wěn)零放大器，內(nèi)置二階低通濾波器，可以有效消除工頻干擾。
     CST520具有自動(dòng)量程功能，能根據(jù)電流及電位值高低，自動(dòng)確定信號(hào)放大倍率。系統(tǒng)固件采用watchdog來提高軟件運(yùn)行的可靠性。CST520 可由USB線與PC機(jī)通訊，并通過WBEScan軟件實(shí)時(shí)顯示W(wǎng)BE電極的行、列位置以及相應(yīng)的電流與電位值。
     CST520的10×10陣列絲束電極掃描電路(Auto-switch)由單片機(jī)控制，并通過100組低功耗繼電器實(shí)現(xiàn)100路電極的自動(dòng)循環(huán)電位/電流掃描式測量，絲束電極與儀器連接采用可靠性高的鍍金插座。
絲束電極電位電流掃描儀 應(yīng)用領(lǐng)域
     用于金屬局部腐蝕誘導(dǎo)、發(fā)展與抑制過程中的表面電位與電流波動(dòng)測量，可用于研究縫隙腐蝕、垢下腐蝕，以及生物膜、涂層、防銹油膜下的金屬非均勻腐蝕行為。

絲束電極電位電流掃描儀主要技術(shù)參數(shù)