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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜 二次離子質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要： 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)?？梢詮V泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界...
產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時(shí)間：2022-09-30 參考價(jià)： 面議 在線留言
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