大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項實驗室服務(wù)范圍

大規(guī)模集成電路芯片

檢測項目

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

大規(guī)模集成電路失效分析全國6大專項實驗室服務(wù)背景

汽車新“四化"要求更強大的芯片功能，同時，車規(guī)級集成電路的集成度日益提?，也使車規(guī)級半導體芯片結(jié)構(gòu)和制造工藝也日益復雜。這對可靠性提出了更高的要求，也帶來了更大的難度，集成電路更容易失效，但失效定位與根源分析卻成為一大難題。

我們的優(yōu)勢

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界專家團隊及先進的失效分析設(shè)備，可為客戶提供完整的失效分析檢測服務(wù)，幫助制造商快速準確地定位失效，找到失效根源。同時，我們可針對客?的研發(fā)需求，提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務(wù)，如配合客戶開展NPI階段驗證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。