三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元器件的安性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū),上部為高溫蓄熱區(qū),試件(待測(cè)品)放置在試驗(yàn)箱中部,高溫沖擊時(shí),上風(fēng)門打開(kāi),形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí),上風(fēng)門關(guān)閉,下風(fēng)門打開(kāi),形成低溫內(nèi)循環(huán)。
三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):
1.采用LCD中英文顯示觸摸式溫濕度控制器,操作簡(jiǎn)單,程式編輯容易。
2.可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況相關(guān)資料、設(shè)定程式曲線、開(kāi)機(jī)注意事項(xiàng)、機(jī)器維護(hù)保養(yǎng)方法。
3.運(yùn)轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況,螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障原因并提供排除故障方法。
4.采用多巽式送風(fēng)機(jī)送風(fēng)循環(huán),溫度分布均勻。
5.可加裝記錄器,將溫濕度曲線記錄。
6.附R232接口,可電腦連接操作。
三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法有:GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn);GB/T2423.22-2002溫度變化;GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估等等。
內(nèi)尺寸可選擇:寬36*高35*深40cm;二:寬50*高40*深40cm;三:寬60*高50*深50cm;四:寬70*高60*深60cm;五:寬100*高100*深100cm。
溫度范圍(范圍內(nèi)任選)可以選擇,A:-40℃~150℃;B:-55℃~150℃;-65℃~150℃,高溫影響價(jià)格不大,所以般默認(rèn)為150度限高溫。
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:10秒以內(nèi),溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間:≤5min。
溫度波動(dòng)度:±0.5℃;溫度偏差:±2℃
三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱用途:
該產(chǎn)品適用于電子元器件的安性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
二箱式:上部為高溫箱,下部為低溫箱,兩箱之間由樣品架連結(jié),經(jīng)氣動(dòng)系統(tǒng)在兩箱間切換。
三箱式:該沖擊試驗(yàn)箱為待測(cè)品靜置之冷熱交替沖擊方式,廣泛使用于電子零組件測(cè)試,半導(dǎo)體,電子線路板,金屬化學(xué),材料等測(cè)試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū),上部為高溫蓄熱區(qū),試件(待測(cè)品)放置在試驗(yàn)箱中部,高溫沖擊時(shí),上風(fēng)門打開(kāi),形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí),上風(fēng)門關(guān)閉,下風(fēng)門打開(kāi),形成低溫內(nèi)循環(huán)。該沖擊試驗(yàn)箱的特點(diǎn)是:試件(待測(cè)品)靜止不動(dòng),使用戶避免了因試件移動(dòng)帶來(lái)的諸多不便。