CSK-IIA系列試塊 - NB/T47013-2015 承壓設備無損檢測超聲波探傷 CSK-IIA系列試塊- NB/T47013-2015

該類試塊依據(jù)承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計，適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設計內(nèi)容見下表：

縱波靈敏度設定：將選用已校驗好的直探頭置于示意圖中g位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，。探頭置于示意圖中h位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第二點。探頭置于示意圖中i位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。探頭置于示意圖中j位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。探頭置于示意圖中k位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。探頭置于示意圖中L位置，前后左右移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。將以上六點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線，此時的靈敏度即為基準靈敏度。CSK-ⅡA-1#測試方法：（1）橫波靈敏度的設定：將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為點。探頭置于示意圖中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第二點。探頭置于示意圖中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。探頭置于示意圖中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。探頭置于示意圖中e位置，前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。探頭置于示意圖中f位置，前后移動探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。將以上六點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線。

CSK-ⅡA-2#測試方法：（1）橫波靈敏度的設定：將選用已校驗好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為點。探頭置于示意圖中b位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第二點。探頭置于示意圖中c位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第三點。探頭置于示意圖中d位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第四點。探頭置于示意圖中e位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第五點。探頭置于示意圖中f位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第六點。探頭置于示意圖中g位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第七點。探頭置于示意圖中h位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第八點。探頭置于示意圖中i位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第九點。探頭置于示意圖中j位置，前后移動探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調整至滿屏的80%高度，記錄此時的dB值，此為第十點。將以上十點連成一條曲線即為標準中規(guī)定的基準線。

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