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  提籃款式冷熱沖擊試驗箱又稱兩箱冷熱沖擊試驗箱， 即可做高低溫沖擊試驗 也可以單獨高溫或低溫試驗。適用于集成電路、印刷線路電路板、芯片、半導體元器件、電子元器件、光電通訊、高分子材料等產品等模擬試品在大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器的安全可靠性試驗和產品。

一、產品特點：

　1、兩箱設備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分,測試產品置于測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,測試產品為靜態(tài)式；

　2、采用觸控式圖控操作界面，操作容易；

　3、沖擊方式應用風路切換方式將溫度道入測試區(qū),做冷熱沖擊測試；

　4、高溫沖擊或低溫沖擊時，最大時間可達999h, 最大循環(huán)周期可達9999次；

　5、系統可作自動循環(huán)引|擎或手動選擇性沖擊可設定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷重熱沖啟始；

　6、冷卻采用二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。淡可以試驗沖擊常溫。

二、主要配置：

　1、內箱采用SUS#304不銹鋼板，外箱采用不銹鋼拉絲板，增加外觀質感和潔凈度，造型美觀大方；

　2、箱體保溫層采用高密度硅酸鋁棉填充.保溫厚度為100mm。

　3、箱體配備直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用，孔徑及孔數可以依客戶要求制作；

　4、機器底部采用高品質可固定式PU活動腳輪，方便移動；

　5、采用7寸彩色觸控屏控制器，程式編輯容易，適用于各種溫度交變試驗條件，具有RS-232通訊界面及軟件，可在電腦上執(zhí)行各種功能；

　6、可獨立設立高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件，具備高低溫試驗機的功能；

　7、可在預約開機時間控制中自動提前預熱、預冷待機，并可選擇起始位置，由高溫或低溫開始循環(huán)或沖擊，具備設定循環(huán)次數及自動除霜等功能；

　8、具備全自動，高精密系統回路，任一機件動作，由P.L.C鎖定處理，溫度控制精度高，全部采用PID自動演算控制；

　9、出風口與回風口由傳感器控制，風向柵門機構切換時間在10秒內完成，冷熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內完成；

　10、運轉中如發(fā)生異常狀況，熒幕上即刻自動顯示故障原因，并在發(fā)現輸入電力不穩(wěn)定時，緊急停機；

　11、冷凍系統采用法國泰康或美國谷輪牌壓縮機，并使用環(huán)保型制冷劑。采用二元復疊制冷，以增加設備使用壽命。

三、技術規(guī)格：

　1、控制器：7寸LCD液晶顯示觸摸屏控制器；

　2、工作槽溫度范圍：G：-45~150℃，Z：-55~150℃，D：-65~150℃；

　3、溫度恢復時間：5分鐘以內；

　4、高度槽溫度：60℃ - 200℃；

　5、低溫槽溫度：（A：-65），（B：-70），（D：-80）~-10℃；

　6、高低溫曝露時間：30分鐘；

　7、內箱材質：霧面不銹鋼SUS304；

　8、外箱材質：霧面線條處理不銹鋼SUS304；

　9、壓縮機：法國泰康/德國比澤爾全密式壓縮機；

　10、電源：AC380V±10%50HZ 三相四線+保護地線。

四、提籃款式冷熱沖擊試驗箱滿足以下標準：

　1、GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件；

　2、GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫；

　3、GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫；

　4、GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則；

　5、GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗；

　6、GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗；

　7、GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗；

　8、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗。