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當(dāng)前位置：常州賽維思環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司>>產(chǎn)品展示>>冷熱沖擊試驗(yàn)箱
高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元器件的安全性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
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