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北京華瑞森科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)QUART SP-dl QA/QC
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地北京市
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更新時(shí)間：2017-07-19 00:51:07瀏覽次數(shù)：951次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線QUART SP-dl X線機(jī)性能測(cè)試模體專門應(yīng)用于在數(shù)字和傳統(tǒng)x射線領(lǐng)域（從DR,CR到X線透視設(shè)備）的QA / QC常規(guī)測(cè)試。只需一次曝光就可以收集到所有確定x射線系統(tǒng)成像質(zhì)量所需的參數(shù)。曝光后,測(cè)試圖像可進(jìn)行視覺評(píng)估。
QUART SP-dl 模體符合電工技術(shù)委員會(huì)，德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-150和德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-4和IPEM,奧地利，PN-EN標(biāo)準(zhǔn)
QUART SP-dl QA/QC X線機(jī)性能測(cè)試模體
QUART SP-dl 產(chǎn)品編號(hào)：12204
QUART SP-dl升級(jí)版 產(chǎn)品編號(hào)：12205
SP-dl KV校準(zhǔn)測(cè)試板 產(chǎn)品編號(hào)：12204K
QUART SP-dl 模體專門應(yīng)用于在數(shù)字和傳統(tǒng)x射線領(lǐng)域（從DR,CR到X線透視設(shè)備）的QA / QC常規(guī)測(cè)試。只需一次曝光就可以收集到所有確定x射線系統(tǒng)成像質(zhì)量所需的參數(shù)。曝光后,測(cè)試圖像可進(jìn)行視覺評(píng)估。
QUART SP-dl 模體符合電工技術(shù)委員會(huì)，德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-150和德國(guó)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DIN6868-4和IPEM,奧地利，PN-EN標(biāo)準(zhǔn)，及AFSSAPS的規(guī)定。
模體測(cè)試過程
安裝初始設(shè)備建立視覺參考實(shí)現(xiàn)QC測(cè)試。從常規(guī)角度看來,他們意味著系統(tǒng)成像能力的恒常性。任何成像性能的衰減都是由測(cè)試圖像的視覺評(píng)估來呈現(xiàn)的。QA / QC的模體一張圖像包含大量的信息。夸脫SP_dl還可以用作兒科模體(兒童模體),如果沒有額外的過濾,（例如鋁或壓克力 /銅）可應(yīng)用于QA / QC測(cè)試過程。
突出特性:kV穩(wěn)定性測(cè)試
模體的特殊功能是集成千伏測(cè)試設(shè)置。設(shè)置的千伏峰值輸出穩(wěn)定，可以定期監(jiān)控。
因?yàn)榍Х鼫y(cè)試板由兩種不同材料,2個(gè)被定義為特殊的輻射質(zhì)量的轉(zhuǎn)碼點(diǎn)。測(cè)試的單純視覺評(píng)估準(zhǔn)確性為 ±2千伏；當(dāng)使用亮度計(jì)(數(shù)字式)或感光計(jì)(膠卷式/屏幕式)測(cè)量時(shí),準(zhǔn)確性增加到 ± 0.5千伏。
技術(shù)參數(shù)
空間分辨率
低對(duì)比度分辨率
X射線照射野的*性
影像均勻性
偽影、影像缺陷等
裝置穩(wěn)定
輻射質(zhì)量
劑量顯示
技術(shù)規(guī)格
內(nèi)部過濾 1.5mm標(biāo)準(zhǔn)銅過濾
17mm壓克力仿真模擬
梯形楔 17階 厚度為0-3.5mm
低對(duì)比度分辨率 8塊測(cè)試版（鋁；0.4-4mm；直徑15mm）
附加 17塊測(cè)試板；每塊代表一級(jí)(直徑4mm)
高對(duì)比度分辨率 線對(duì)卡（38條/鉛0.05mm/45度）
kV穩(wěn)定性 *的KV測(cè)試板(Yb + Pb)
X射線照射野的*性 標(biāo)記視野范圍
中心標(biāo)記 標(biāo)記為不透明部分
明顯標(biāo)記 模體中心為均勻材質(zhì)區(qū)域
垂直放置 可固定在墻上懸置使用
尺寸 200*200*18.5mm（L*W*H）
大尺寸照射野 33cm*33cm
配備軟件
QUART Konkord 2.0 X射線性能測(cè)試系統(tǒng)
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