XP1型偏光顯微鏡
二手閑置，配件齊全，數量有限，售完即止。
用途：
XP1型透射偏光顯微鏡，主要用于巖石的薄片檢定。利用偏振光研究均勻介質的強弱和各種差異，以鑒定地質礦物含量。本儀器廣泛用于地質研究部門和有關院校和實驗室，也用于紡織業(yè)，對纖維進行檢驗。
結構：
1、物鏡轉換器采用外定位可調式。
2、目鏡采用大視場平鏡目鏡，成像清晰。
3、照明系統(tǒng)采用非球面，增加了亮度。
4、轉臺采用滾動式，舒適，輕巧。
5、檢偏鏡可轉180度，配以可調補償器，可定量檢定。
6、調焦系統(tǒng)采用粗微調合同付滑板，滑板采用雙圓弧滾動導軌，受力后穩(wěn)定可靠。
7、組合式結構，可以方便地增加附件，使它有可能變?yōu)槎喙δ艿娘@微鏡；配以適當附件，可進行明視場觀察、暗視場觀察、熒光觀察、相襯觀察、顯微攝影。
注：產品照片為實物拍攝，供參考；本公司保留對產品進行改進提高的權利，屆時恕不另行通知客戶；本產品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準。包裝箱為定制實木結構，故在安全性上有保障，但相應重量及運費要高些，請各位理解。
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