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深圳海納光學有限公司
主營產品： 激光護目鏡，可飽和吸收鏡，衍射光學元件，光束整形器，太赫茲透鏡，太陽能模擬器，太赫茲相機，激光測量儀，離軸拋物面鏡，微透鏡陣列 |
公司信息
| 參考價 | ￥ 75000 |
| 訂貨量 | 1 件 |
- 型號 LAM Beam Analyzer, LAM U3
- 品牌
- 廠商性質 代理商
- 所在地 深圳市
深圳海納光學專業(yè)代理以色列DUMA大功率激光光束質量分析儀。近年來大功率激光光束質量的測量一直是激光行業(yè)的一個難點和痛點。無論是CMOS/CCD傳感器還是刀口式檢測原理，都無法承受大功率激光的直接接收，因為CMOS傳感器或者CCD傳感器的靈敏度都很高，僅可以承受到微瓦到毫瓦的功率范圍，這使得大功率激光無法實現直接檢測，這會導致因激光功率過高而直接損壞傳感器，哪怕使用衰減片（ND）仍無法滿足，甚至需要配合多個衰減片進行一個整體組合后才可使用，這會使得激光整體模式受到不可估計的影響。
以色列DUMA公司近期研制出一款風冷采樣器，通過壓縮空氣降溫的原理來實現冷卻。該采樣器可以提供1.1×10-5的采樣效率，相比于衰減片（ND）而言，效率更高，且適用于多種場合。該采樣器可以與現有光束質量分析儀相匹配，出廠即完成裝配，可以滿足用戶對于高功率激光的檢測，對于連續(xù)激光，可承受4KW的功率。
我司為用戶提供兩種系列大功率激光光束質量分析儀，LAM和M2-Beam，其中LAM可用于檢測工作面上的聚焦激光，其檢測原理為刀口式測量原理，僅可檢測連續(xù)激光（CW），M2-Beam的普通型號同樣采取刀口式測量原理。當然，為了滿足用戶對于脈沖激光（Pulsed）的檢測需求，我們也提供CMOS傳感器版本（-U3型號）。
以上機型均可安裝風冷采樣器，SAM-HP-M。需要注意的是，在測量大功率激光時，連續(xù)曝光時間不能超過5s。并且高功率機型出廠后，風冷采樣器處于已裝配狀態(tài)，原則上講我們不提倡用戶將其拆卸，因為其中涉及到接收對準和安裝工藝問題，這會導致拆卸后無法安裝的問題存在，基于更小的靈敏度，儀器哪怕裝載了風冷采樣器，對于小功率激光仍具備一定的探測能力。
大功率光束分析儀的核心部件——風冷采樣器規(guī)格參數：
型號 SAM3-HP
光譜范圍 250-2000nm
采樣系數 1.1×10-5
外型尺寸 40 mm dia. × 31 mm length
通光孔徑 8 × 8 mm
從輸入到采樣表面的zui小光路 25mm（視具體型號而定）
LAM大功率激光光束質量分析儀產品規(guī)格參數：
LAM-BA LAM-U3
傳感器類型 硅基，使用刀口法測量技術 CMOS
刀口數 7 -
光譜范圍： 硅：350-1100nm 350-1310nm
功率范圍@900/1070 nm 高達4KW（需要衰減片和高壓空氣風冷，可能會有一些限制） 連續(xù)激光1-2500W，脈沖激光1-1000W
光斑尺寸范圍 35微米至8毫米 75微米-6毫米
分辨率（H × V像素） 根據光束大小自適應 1920 ×1200
傳感器有效尺寸 9 × 9 11.34 × 7.13
工作距離 49mm 從輸入表面到傳感器的光學距離為40.7±0.2毫米
zui高BPP zui大輸入角度-25deg zui大輸入角度-25deg
zui大功率密度 1,000,000 W/cm2 1,000,000 W/cm2
光束寬度精度 ± 1.5 ％ ± 1.5 ％
功率精度 ± 5 ％ ± 5 ％
工作溫度 0℃-35℃ 0℃-35℃
M2-Beam 大功率光束分析儀產品規(guī)格：
-輸入光束
M2Beam M2Beam U3
技術工藝 刀口式掃描原理，應用Si探測器，InGaAs探測器和增強型InGaAs探測器 USB 3.0接口
CMOS 2.4MP
內置過濾論
光譜響應（nm） SI傳感器：350-1100
InGaAs傳感器：800-1800
Enhanced InGaAs 傳感器：800-2700 VIS-NIR：350-1600
UV-NIR：220-1350
激光功率范圍 Si：100 μW-1 W（帶衰減片）
InGaAs&UV：100 μW-5 mW
HP：4 kW以下 10μW-100mW，內置濾光輪
HP：4 kW以下
刀口數 7 —
光束尺寸 帶透鏡高達25mm直徑（Si&UV版本）
束腰到透鏡距離 2.0~2.5米*
zui小2米
-掃描裝配附件
材質 鋁
透鏡焦距 300mm（在632.6nm時）
透鏡直徑 25mm
掃描次數 140
zui小步進尺寸 100μm
掃描長度 280mm
-整機
重量 2.5kg
尺寸 100×173×415 mm
托架 M6或1/4“固定
機械調整 水平角：±1.5°
垂直角：±1.5°
電纜長度 2.5m
高功率光束分析儀訂購型號及描述：
LAM-BA: 7-blades, Si detector with high power attenuator and mounting adapter
LAM-U3: A camera for 350 –1310 nm with motorized built-in filter wheel with high power attenuator and mounting adaptor, a set of interchangeable filters,
M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)
M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)
M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)
M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based
M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.
SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams
