X射線光電子能譜儀 產(chǎn)品特點(diǎn)
易操作式多功能選配附件
全自動(dòng)樣品傳送停放
高性能大面積和微區(qū) XPS 分析
快速精細(xì)深度剖析
為電池、半導(dǎo)體、有機(jī)器件以及其他各領(lǐng)域提供各方面解決方案
X射線光電子能譜儀 簡(jiǎn)單易操作
PHI GENESIS 提供了一種全新的用戶體驗(yàn)，儀器高性能、全自動(dòng)化、簡(jiǎn)單易操作。
操作界面可在同一個(gè)屏幕內(nèi)設(shè)置常規(guī)和高級(jí)的多功能測(cè)試參數(shù)，同時(shí)保留諸如進(jìn)樣照片導(dǎo)航和 SXI 二次電子影像精細(xì)定位等功能。
X射線光電子能譜儀
PHI GENESIS 提供了 一個(gè)簡(jiǎn)單、直觀且易于操作的用戶界面，對(duì)于操作人員非常友好，
操作人員執(zhí)行簡(jiǎn)單的設(shè)置操作即可完成包括所有選配附件在內(nèi)的自動(dòng)化分析。
X射線光電子能譜儀 多功能選配附件
原位的多功能自動(dòng)化分析，涵蓋了從LEIPS 測(cè)試導(dǎo)帶到 HAXPES 芯能級(jí)激發(fā)的全范圍技術(shù)，相比于傳統(tǒng)的 XPS 而言，PHI GENESIS 體現(xiàn)了的性能價(jià)值。
X射線光電子能譜儀
各方面的優(yōu)良解決方案
高性能 XPS、UPS、LEIPS、REELS、AES、GCIB 及多種其他選配附件可以滿足所有表面分析需求。
X射線光電子能譜儀
X射線光電子能譜儀 多數(shù)量樣品大面積分析
- 多數(shù)量樣品大面積分析
- 把制備好樣品的樣品托放進(jìn)進(jìn)樣腔室后將自動(dòng)傳送進(jìn)分析腔室內(nèi)
- 可同時(shí)使用三個(gè)樣品托
- 80mm×80mm 的大樣品托可放置多數(shù)量樣品
- 可分析粉末、粗糙表面、絕緣體、形狀復(fù)雜等各種各樣的樣品
X射線光電子能譜儀
