ATP5020 制冷微型光纖光譜儀
制冷型/高分辨率/低噪聲
一、產(chǎn)品概述
ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導(dǎo)體制冷技術(shù)，CCD可工作在設(shè)定的恒溫環(huán)境（可達(dá)-15ºC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP5020的測量可靠性，測量結(jié)果不隨環(huán)境溫度變化。
同時(shí)，奧譜天成為ATP5020特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界水平。ATP5020可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數(shù)據(jù)。ATP5020只需要一個(gè)5V直流電源供電，非常便于集成使用。
二、特點(diǎn)：
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探測器：背照式CCD（制冷至-15 oC）
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探測器像素：2048×64
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超低噪聲CCD信號處理電路
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光譜范圍: 600-1180nm
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光譜分辨率: 0.1-2 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
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光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T
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積分時(shí)間：2ms-130s
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供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
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18 bit, 570KHz A/DConverter
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光輸入接口：SMA905或自由空間
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數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
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20針雙排可編程外擴(kuò)接口
三、典型應(yīng)用：
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拉曼光譜儀
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微量、快速分光光度計(jì)；
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光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
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透過率、吸光度檢測；
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反射率檢測；
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紫外、可見和短波近紅外
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波長檢測
| 探測器 | |
| 類型 | 線陣背照式CCD (制冷到 -15ºC) |
| 探測光譜范圍 | 190-1100 nm |
| 有效像素 | 2048×64 |
| 像元尺寸 | 14μm×14μm |
| 全量程范圍 | ~200 ke- |
| 靈敏度 | 6.5 uV/e- |
| 暗噪聲 | 6 e- |
| 光學(xué)參數(shù) | |
| 波長范圍 | 600-1180 nm |
| 光學(xué)分辨率 | 0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍） |
| 性噪比 | >1300:1 |
| 動態(tài)范圍 | 5000：1 |
| 工作溫度 | -10-40 oC |
| 工作濕度 | < 85%RH |
| 光路參數(shù) | |
| 光學(xué)設(shè)計(jì) | f/4 交叉非對稱C-T光路 |
| 焦距 | 40 mm for incidence / 60 mm for output |
| 入射狹縫寬度 | 5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制 |
| 入射光接口 | SMA905光纖接口、自由空間 |
| 電氣參數(shù) | |
| 積分時(shí)間 | 1 ms - 130 second |
| 數(shù)據(jù)輸出接口 | USB 2.0 |
| ADC位深 | 18 bit |
| 供電電源 | DC 5V±10% |
| 工作電流 | <2.3A |
| 存儲溫度 | -20°C to +70°C |
| 操作溫度 | -10°C to +40°C |
| 物理參數(shù) | |
| 尺寸 | 170×110×52 mm3 |
| 重量 | 0.8 kg |
| Sealing | Anti-sweat |
ATP5020-制冷型超高分辨率光纖光譜儀
