4096像素超高分辨率光纖光譜儀
0.01nm分辨率/1100nm/低噪聲
一、描述
ATP3034--4096像素超高分辨率光纖光譜儀系列是奧譜天成研制的高分辨率光纖光譜儀,其探測(cè)器像素高達(dá)4096個(gè),響應(yīng)范圍覆蓋UV至NIR波段(180-1100 nm)。光路、電路、信號(hào)處理方法均進(jìn)行了深度優(yōu)化,從而實(shí)現(xiàn)了超高分辨率、超低噪聲的性能。
采用TE深度制冷的ATP3011P,進(jìn)一步提高了信噪比和動(dòng)態(tài)范圍。
ATP3011P只需一個(gè)5V直流電源供電,數(shù)據(jù)輸出接口有USB2.0或者UART,便于集成使用。
型號(hào)探測(cè)器像素探測(cè)器是否制冷
ATP像素探測(cè)器非制冷
ATP像素探測(cè)器非制冷
二、特征
l 探測(cè)器像素:4096
l 超高分辨率:至0.01nm
l 高靈敏度:650V(lx•s)
l 響應(yīng)范圍:180 - 1100 nm
l 探測(cè)器制冷溫度:0 ℃
l 讀出速率:10 MHz max
l 光路結(jié)構(gòu):交叉C-T
l 積分時(shí)間:1-65535 ms
l 供電電源:DC 5V±10% @<2A
l 光輸入接口:SMA905或自由空間
l 數(shù)據(jù)輸出接口:USB2.0(High speed)或UART
三、應(yīng)用
l 微量、快速分光光度計(jì)
l 光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
l 透過(guò)率、吸光度檢測(cè)
l 反射率檢測(cè)
l 波長(zhǎng)檢測(cè)(紫外、可見(jiàn)和短波近紅外)
l 橢偏儀
四、性能參數(shù)






圖1 ATP3010P的噪聲性能

圖2 ATP3011P(制冷型)的噪聲性能

圖2:長(zhǎng)焦長(zhǎng)、Czerny-Turner全反射式光學(xué)設(shè)計(jì)
機(jī)械尺寸



電氣接口


ATP3034--4096像素超高分辨率光纖光譜儀