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廣電計(jì)量檢測集團(tuán)股份有限公司

高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京縱橫金鼎儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2022/6/26 19:56:03
  • 訪問次數(shù)145
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北京縱橫金鼎儀器設(shè)備有限公司(簡稱金鼎儀器,JDYQ)于2016年注冊成立,注冊資金5000萬元。是以中國航天研究院,清華大學(xué)系專家作為公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)。公司致力于各類試驗(yàn)儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、制造及銷售,并有自主研發(fā)軟件的專業(yè)團(tuán)隊(duì),公司總部坐落于美麗富饒的經(jīng)濟(jì)文化交流中心——北京市,物華天寶,人杰地靈。
公司自創(chuàng)建以來,一直保持著健康穩(wěn)定的發(fā)展態(tài)勢,并以超過%的年均增長速度快速持續(xù)發(fā)展,完善的客戶服務(wù)體系,確保了金鼎儀器產(chǎn)品的設(shè)計(jì)*,質(zhì)量穩(wěn)定,供貨及時(shí)和服務(wù)周到。公司擁有自主的設(shè)計(jì)資質(zhì),已獲得十余項(xiàng)國家Z利產(chǎn)品。公司擁有一批專業(yè)從事設(shè)計(jì)、制造、安裝、調(diào)試及售后服務(wù)的員工隊(duì)伍:在軟件設(shè)計(jì)和技術(shù)研發(fā)上,公司擁有清華大學(xué)、工業(yè)大學(xué)高級工程師的專家團(tuán)隊(duì)和專業(yè)*、勇于創(chuàng)新的中青年專業(yè)技術(shù)人員和項(xiàng)目人員;金鼎儀器本著“鑄造輝煌,唯有質(zhì)量”的堅(jiān)定信念。
    金鼎儀器立志打造專業(yè)精深,通過不斷創(chuàng)新及與用戶的深入合作持續(xù)改進(jìn)產(chǎn)品,保證用戶對品牌的*信任。我們對品牌成功的定義或許與眾不同,我們的目標(biāo)是成為國內(nèi)用戶二次購買率的試驗(yàn)儀機(jī)品牌,即用戶流失率的企業(yè)。
 

    展望未來,金鼎儀器正在以打造基業(yè)長青百年企業(yè)的發(fā)展目標(biāo)為指導(dǎo),全面提升內(nèi)部管控,按照專業(yè)化、規(guī)模化、品牌化、資本化的發(fā)展策略,先。同時(shí),金鼎儀器不斷致力于與企業(yè)集團(tuán)強(qiáng)強(qiáng)合作,以共創(chuàng)中國精密儀器行業(yè)的美好明天而不斷努力。

測定儀,試驗(yàn)儀、密度計(jì)
描述:LJD系列高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 產(chǎn)品信息

LJD系列 介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高頻介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(D或tanδ) 的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。     

LJD系列介電常數(shù)測試儀工作頻率范圍是20Hz~5MHz,它能完成工作頻率內(nèi)對絕緣材料的相對介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗 (D或tanδ)變化的測試。

LJD系列中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數(shù)和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。

1 高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn):                            
 高頻阻抗分析儀電容值Cp辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復(fù)性。

介電常數(shù)測量范圍可達(dá)1~105

2 高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 ε和D性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz~5MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,

2.1.3 ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% ,  D:±5%±0.0001。

2.2高頻阻抗分析儀和數(shù)字電橋

型號

LJD-C

LJD-D

工作頻率范圍

50Hz~100kHz(10個(gè)頻點(diǎn))

精度:±0.05%

20Hz~1MHz/2MHz/5MHz

數(shù)字合成,精度:±0.02%

電容測量范圍

0.0001pF~99999μF

四位數(shù)顯

0.00001pF~9.99999F

六位數(shù)顯

電容測量基本誤差

±0.05%

±0.05%

損耗因素D值范圍

0.0001~9.9999

四位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2.3 DL916B 介電常數(shù)測試裝置(含保護(hù)電極)

2.3.1 平板電容器極片尺寸:Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.001mm
2.3.3插頭間距:與電橋四端配合

 

 

 

 

 

 

 

2.3.4加溫控溫裝置(選購設(shè)備)可以完成Z高200℃控溫精度l℃加熱測試。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2.4 Agilent 16451B 介質(zhì)材料測試裝置提供四種不同直徑測試電極,

能對直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精確測量。它針對不同試樣

可設(shè)置為接觸電極法,薄膜電極法和

非接觸法三種,以適應(yīng)軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率:10μm

2.4.2 Z高耐壓:±42Vp(AC+DC)

2.4.3 電纜長度設(shè)置:1m

2.4.4 Z高使用頻率:30MHz 

 

 

 

2.5 高頻介質(zhì)樣品(選購件):
  在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。

用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

2.6 LJD系列 介電常數(shù)測試儀配置

 

配置類型

普及型

標(biāo)準(zhǔn)型

精密型

電橋工作頻率范圍

100Hz~100kHz

精度:±0.02%

20Hz~5MHz

精度:±0.02%

20Hz~5MHz

精度:±0.02%

配置型號

LJD數(shù)字電橋

+DL916B測試裝置

LJD系列 阻抗分析儀

+DL916B三電極測試裝置

LJD系列 阻抗分析儀

+16451B介質(zhì)材料測試裝置

(能適宜各種樣品)

介電常數(shù)范圍

1-1000

精度:±5%

1-1000

精度:±2%

1-100000

精度:±2%

損耗因素D值范圍

0.0001~9.9999

四位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

0.00001~9.99999

六位數(shù)顯

 

 

 

關(guān)鍵詞:絕緣材料 電容器
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