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GCSTD-D新款GCSTD系列低頻介電常數(shù)測試儀介電常數(shù)測定儀

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公司名稱北京冠測精電儀器設(shè)備有限公司
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更新時(shí)間2023/6/11 9:11:56
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◆★◆★◆★◆落球回彈試驗(yàn)儀**選型及注意事項(xiàng)◆★◆★◆★◆

◆★◆電動(dòng)釋放鋼球和手動(dòng)釋放鋼球的區(qū)別◆★◆

A：手動(dòng)釋放：手動(dòng)釋放鋼球的原理是通過手柄上的磁鐵吸住鋼球，然后通過人為的外力使手柄和鋼球分離，勢必會(huì)導(dǎo)致鋼球在下落過程中出現(xiàn)偏離和旋轉(zhuǎn)，必然會(huì)導(dǎo)致鋼球與試樣接觸后出現(xiàn)碰壁和偏離中心，并且由于每個(gè)人或者同一個(gè)操作人員每次操作力度不同，也會(huì)對結(jié)果產(chǎn)生誤差，影響測試的成功率。

B：電動(dòng)釋放：電動(dòng)釋放鋼球的原理是將鋼球與電磁鐵垂直并固定在有機(jī)玻璃管中心位置，通過斷電后電磁鐵失去磁性后自由下落，與試樣接觸后進(jìn)行反彈，大大提高了試驗(yàn)效率和數(shù)據(jù)的可靠性。同時(shí)也滿足了標(biāo)準(zhǔn)里所規(guī)定的鋼球下落時(shí)不允許有旋轉(zhuǎn)并處于中心位置的要求。

◆★◆人工讀數(shù)和自動(dòng)讀數(shù)都要有的優(yōu)勢◆★◆

自動(dòng)度數(shù)的精度比較高，但是如果由于操作失誤或由于試樣不平整而導(dǎo)致出現(xiàn)測試結(jié)果錯(cuò)誤時(shí)，可以通過人工讀數(shù)進(jìn)行對比，有效降低了失誤概率，從而使測試的數(shù)據(jù)更加嚴(yán)謹(jǐn)。

◆★◆關(guān)于落球回彈對試樣測試結(jié)果取值的要求◆★◆

在標(biāo)準(zhǔn)里，對測試結(jié)果有如下的概述：每組測試3個(gè)試樣，每個(gè)試樣測試3個(gè)結(jié)果，從3個(gè)結(jié)果中取較大值，再計(jì)算3個(gè)較大值的平均值作為試樣的平均回彈率。但是市場上的部分廠家儀器未能理解標(biāo)準(zhǔn)對測試結(jié)果的要求，從而導(dǎo)致測試結(jié)果數(shù)據(jù)不可靠，同時(shí)客戶對此項(xiàng)的關(guān)注及重視程度不夠，希望能夠引起您的重視。

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新款GCSTD系列低頻介電常數(shù)測試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質(zhì)）的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

GCSTD-D新款GCSTD系列低頻介電常數(shù)測試儀介電常數(shù)測定儀產(chǎn)品信息

GCSTD-D新款GCSTD系列低頻介電常數(shù)測試儀的詳細(xì)資料：

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測試方法

影響介電性能的因素

下面分別討論頻率、溫度、濕度和電氣強(qiáng)度對介電性能的影響。

1 頻率

因?yàn)橹挥猩贁?shù)材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內(nèi)它們的。r和 tans幾乎是恒定的，且被用作工程電介質(zhì)材料，然而一般的電介質(zhì)材料必須在所使用的頻率下測量其介質(zhì)損耗因數(shù)和

電容率。

電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的變化是由于介質(zhì)極化和電導(dǎo)而產(chǎn)生，*重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勻性導(dǎo)致的界面極化所引起的。

溫度

損耗指數(shù)在一個(gè)頻率下可以出現(xiàn)一個(gè)*值，這個(gè)頻率值與電介質(zhì)材料的溫度有關(guān)。介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率的溫度系數(shù)可以是正的或負(fù)的，這取決于在測量溫度下的介質(zhì)損耗指數(shù)*值位置。

3 濕度

極化的程度隨水分的吸收量或電介質(zhì)材料表面水膜的形成而增加，其結(jié)果使電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電導(dǎo)率增大。因此試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)對環(huán)境濕度進(jìn)行控制是*的

注:濕度的顯著影響常常發(fā)生在 1MHz以下及微波頻率范圍內(nèi)

4 電場強(qiáng)度

存在界面極化時(shí)，自由離子的數(shù)目隨電場強(qiáng)度增大而增加，其損耗指數(shù)*值的大小和位置也隨此而變。

在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強(qiáng)度無關(guān)

固體絕緣材料

5.1試樣的幾何形狀

測定材料的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)，*采用板狀試樣，也可采用管狀試樣。在測定電容率需要較高精度時(shí)，*的誤差來自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚度應(yīng)足夠大，以滿足測量所需要的精確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點(diǎn)間厚度的變化。

對 1%的精確度來講，1.5mm的厚度就足夠了，但是對于更高精確度，*是采用較厚的試樣，例如6mm-12mm 測量厚度必須使測量點(diǎn)有規(guī)則地分布在整個(gè)試樣表面上，且厚度均勻度在士1%內(nèi)。

如果材料的密度是已知的，則可用稱量法測定厚度選取試樣的面積時(shí)應(yīng)能提供滿足精度要求的試樣電容。測量 10pF的電容時(shí)，使用有良好屏蔽保護(hù)的儀器。由于現(xiàn)有儀器的極限分辨能力約 1pF,因此試樣應(yīng)薄些，直徑為 10cm或更大些

需要測低損耗因數(shù)值時(shí)，很重要的一點(diǎn)是導(dǎo)線串聯(lián)電阻引人的損耗要盡可能地小，即被測電容和該電阻的乘積要盡可能小同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大 *點(diǎn)表示導(dǎo)線電阻要盡可能低及試樣電容要小。第二點(diǎn)表示接有試樣橋臂的總電容要盡可能小，且試樣電容要大。因此試樣電容*取值為20pF，在測量回路中，與試樣并聯(lián)的電容不應(yīng)大于約5pF,

試驗(yàn)報(bào)告

試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出下列相關(guān)內(nèi)容:

絕緣材料的型號名稱及種類、供貨形式、取樣方法、試樣的形狀及尺寸和取樣日期(并注明試樣厚度

和試樣在與電極接觸的表面進(jìn)行處理的情況);

試樣條件處理的方法和處理時(shí)間;

電極裝置類型，若有加在試樣上的電極應(yīng)注明其類型;

測量儀器;

試驗(yàn)時(shí)的溫度和相對濕度以及試樣的溫度;

施加的電壓;

施加的頻率;

相對電容率。r(平均值);

介質(zhì)損耗因數(shù) tans(平均值);