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美國泰克/吉時(shí)利 2602B高精度數(shù)字源表
吉時(shí)利2602B數(shù)字源表給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個(gè)靈活的、高效的、及具性價(jià)比的方案，適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測(cè)量測(cè)試。
基于*初吉時(shí)利2602B系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測(cè)量技術(shù)，對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用，吉時(shí)利2602B系列提供一款嵌入式TSP Express測(cè)試軟件，允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試，無需編程或安裝軟件。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，吉時(shí)利2602B數(shù)字源表的TSP架構(gòu)和新增功能，例如，并行測(cè)試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界吞吐量，從而降低了測(cè)試成本
測(cè)量功能
雙通道型號(hào)支持80W輸出功率（40W/通道）
4象限源/測(cè)量具有6位半分辨率
電流zui大值/zui小值：3A直流、10A脈沖/100fA
電壓zui大值/zui小值：40V/100nV
美國泰克/吉時(shí)利 2602B高精度數(shù)字源表
2600B系列數(shù)字源表是吉時(shí)利*新的I-V源-測(cè)量儀器，既可以用作桌面級(jí)I-V特性分析工具，也可以成為多通道I-V測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。對(duì)于桌面級(jí)的應(yīng)用，2600B系列提供一款嵌入式TSP® Express測(cè)試軟件，允許用戶快速、方便地進(jìn)行常用的I-V測(cè)試。對(duì)于系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用，2600B的TSP架構(gòu)和新增功能，例如，并行測(cè)試能力和精密時(shí)鐘同步，提供了業(yè)界*高吞吐量，從而降低了測(cè)試成本。
一個(gè)緊湊的單元中綜合了如下功能:精密電壓源高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生
器電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器代碼后向兼容2600系列數(shù)字源表,便于更換T
SP Express軟件工具實(shí)現(xiàn)快速、便捷的I-V測(cè)試精密定時(shí)和信道同步( <500ns )
執(zhí)行并行測(cè)試,獲得無以倫比的吞吐量
20,000讀數(shù)秒提供更快的測(cè)試時(shí)間和能力,捕捉器件瞬態(tài)性能
系列產(chǎn)品提供寬動(dòng)態(tài)范圍: 1fA~10A和1uV~200V
TSP-Link@總線支持每GPIB或IP地址多達(dá)32單元/64通道的通道擴(kuò)展
測(cè)試腳本處理器( TSP@ )以*的系統(tǒng)自動(dòng)化在儀器中執(zhí)行完整的測(cè)試程序(腳本)
USB端口用于保存數(shù)據(jù)和測(cè)試腳本
LXI Class C兼容性提供高速數(shù)據(jù)傳輸并且實(shí)現(xiàn)快捷地遠(yuǎn)程測(cè)試、監(jiān)控和排錯(cuò)
一般特性
內(nèi)建“即插即用”基于Java的I-V特性分析和測(cè)試軟件
TSP®（測(cè)試腳本處理）技術(shù)在測(cè)量儀器內(nèi)嵌入了完整測(cè)試程序
TSP-Link®擴(kuò)展技術(shù)面向多通道并行測(cè)試
軟件仿真基于吉時(shí)利2400源表SMU
大屏幕、易于閱讀、雙行顯示
?作為2600系列源表SMU系列產(chǎn)品的一部分，2602B源表SMU是全新改良版雙通道SMU，具有緊密集成的4象限設(shè)計(jì)，能同步源和測(cè)量電壓/電流以提高研發(fā)到自動(dòng)生產(chǎn)測(cè)試等應(yīng)用的生產(chǎn)率。除保留了2602A的全部產(chǎn)品特點(diǎn)外，2602B還具有6位半分辨率、USB 2.0連接性以及能輕松移植遺留測(cè)試代碼的2400源表SMU軟件指令仿真。2602B配備了吉時(shí)利的高速TSP®技術(shù)（比傳統(tǒng)PC至儀器的通信技術(shù)快200%），這*提高了系統(tǒng)級(jí)速度，降低了測(cè)試成本。TSP-Link®接口實(shí)現(xiàn)了多通道并行測(cè)試并擴(kuò)展了測(cè)試系統(tǒng)，沒有主機(jī)開銷。3A直流、10A脈沖和40V輸出的寬量程適于測(cè)試寬范圍的大電流器件、材料、組件和分裝件。
