數(shù)字式四探針測試儀/四探針電阻率檢測儀/方阻儀型號：TRST-2253 

TRST-2253 型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量半導(dǎo)體材料的電阻率，測量擴散層的薄層電阻（亦稱方阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進行測量。
　　儀器由主機、測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結(jié)果由主機數(shù)碼管直接顯示。也可連接PC機由配套軟件在PC機上操作，其數(shù)據(jù)可由軟件顯示、分析、保存和打印！
　　主機主要由精密恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
　　儀器于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合。
三、基本技術(shù)參數(shù)
3.1測量范圍
電　阻率：    10-4～105Ω-cm
方塊電阻：  10-3～106Ω/□
電　　阻：10-4～105Ω
3.2可測半導(dǎo)體材料尺寸
直  徑：  Φ15～100mm, 長（或高）度：  ≤400mm
2.3測量方位: 
軸向、徑向均可
2.4.   4 1/2 位數(shù)字電壓表：
⑴量程： 200mV
⑵誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字
2.5數(shù)控恒流源
⑴電流輸出：直流電流 0～100mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
⑶誤差：±0.5%讀數(shù)±2 字
2.6四探針測試探頭
   ⑴探針間距 1mm
(2)探針壓力: 0～2kg 可調(diào),zui大壓力約 2kg
(3)探針：碳化鎢，Φ0.5mm
2.7.電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<20W
2.8.外形尺寸：
主機  260mm（長）×210 mm（寬）×125mm（高）

半導(dǎo)體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀/四探針電阻率分析儀 型號：  TDW-6
 

TDW-6型半導(dǎo)體電阻率測試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設(shè)備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產(chǎn)廠家硅料分選測試的理想工具。
1、 主要技術(shù)指標:
電源：220V交流
可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%。
數(shù)字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV
電阻率顯示：三位半數(shù)字顯示：小數(shù)點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
zui大電阻測量誤差（按JJG508-87進行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個字。
測量環(huán)境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%
2、操作程序：
  1、先連好電源，打開后面板電源開關(guān)，電源指示燈亮，表示待機完畢。
  2、校準設(shè)備：根據(jù)國標電流修正系數(shù)表通過厚度調(diào)節(jié)電流來校準儀器，或通過：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀
  3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可，
  4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準一次設(shè)備，
3、 針組件;維護及注意事項:
  1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭  的  清理清潔工作
  2、維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列。 

公司名稱：北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司
聯(lián) 系 人：蘇
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